[发明专利]光学拾取装置无效
申请号: | 200710005764.X | 申请日: | 2007-02-13 |
公开(公告)号: | CN101192428A | 公开(公告)日: | 2008-06-04 |
发明(设计)人: | 木村茂治;岛野健 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立媒介电子 |
主分类号: | G11B7/135 | 分类号: | G11B7/135;G11B7/13;G11B7/125 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 曲瑞 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 拾取 装置 | ||
1.一种光学拾取装置,其特征在于,具有:
激光光源;
会聚光学系统,将来自上述激光光源的激光分割成主光线和副光线,并使上述主光线和副光线会聚在多层光信息存储媒体的一个记录层上;和
检测光学系统,检测从上述多层光信息存储媒体的上述记录层反射的反射光,
其中,上述检测光学系统包括:光学系统,使来自上述记录层的反射光缩小范围;反射板,在由上述光学系统缩小了范围的上述主光线的光斑位置以及上述副光线的光斑位置上分别独立地设置有反射区域;有象散的会聚元件;和光检测器,具备检测上述主光线的检测元件以及检测上述副光线的检测元件,其中通过由上述有象散的会聚元件将由上述反射板反射后的反射光会聚在上述光检测器上来进行检测。
2.如权利要求1所述的光学拾取装置,其特征在于,
在上述会聚光学系统的光路中设置光束分光器,上述会聚光学系统和上述检测光学系统在上述光束分光器和上述记录层之间共用光路。
3.如权利要求2所述的光学拾取装置,其特征在于,
在设置在上述反射板上的反射区域的面积中,对应于上述主光线的反射区域的面积与对应于上述副光线的反射区域的面积不同。
4.如权利要求2所述的光学拾取装置,其特征在于,
设置在上述反射板上的反射区域的形状为条带状。
5.如权利要求4所述的光学拾取装置,其特征在于,
在上述条带的宽度中,对应于上述主光线的反射区域的宽度与对应于上述副光线的反射区域的宽度不同。
6.如权利要求2所述的光学拾取装置,其特征在于,上述有象散的会聚元件为会聚透镜,上述反射板与上述有象散的会聚元件夹着上述光束分光器配置。
7.如权利要求2所述的光学拾取装置,其特征在于,
上述有象散的会聚元件为凹面镜,上述反射板与上述有象散的会聚元件相对于上述光束分光器配置在相同侧。
8.如权利要求2所述的光学拾取装置,其特征在于,
上述会聚光学系统使来自上述激光光源的激光作为发散光透过上述光束分光器。
9.如权利要求2所述的光学拾取装置,其特征在于,
上述光束分光器为偏振光束分光器。
10.一种光盘驱动装置,其特征在于,具有:
媒体驱动部,保持多层光信息存储媒体并进行旋转驱动,
光学拾取装置,具有信号处理光学系统,该信号处理光学系统将激光照射在保持在上述媒体驱动部上的多层光信息存储媒体上,并检测记录信息;和
信号处理电路,从由上述光学拾取装置的信号处理光学系统检测出的信号中,取出焦点位置控制信号、循轨位置控制信号和数据信号,
其中,上述信号处理光学系统具有:激光光源;会聚光学系统,将来自上述激光光源的激光分割成主光线和副光线,并使上述主光线和副光线会聚在上述多层光信息存储媒体的一个记录层上;和检测光学系统,检测从上述记录层反射后的反射光,其中,上述检测光学系统包括:光学系统,使来自上述记录层的反射光缩小范围;反射板,在由上述光学系统缩小了范围的上述主光线的光斑位置以及上述副光线的光斑位置上分别独立地设置有反射区域;有象散的会聚元件;和光检测器,具备检测上述主光线的检测元件以及检测上述副光线的检测元件,其中通过由上述有象散的会聚元件将由上述反射板反射的反射光会聚在上述光检测器上来进行检测。
11.如权利要求10所述的光盘驱动装置,其特征在于,
在上述会聚光学系统的光路中设置光束分光器,上述会聚光学系统和上述检测光学系统在上述光束分光器和上述记录层之间共用光路。
12.如权利要求11所述的光盘驱动装置,其特征在于,
在设置在上述反射板上的反射区域的面积中,对应于上述主光线的反射区域的面积与对应于上述副光线的反射区域的面积不同。
13.如权利要求11所述的光盘驱动装置,其特征在于,
设置在上述反射板上的反射区域的形状为条带状。
14.如权利要求13所述的光盘驱动装置,其特征在于,
在上述条带的宽度中,对应于上述主光线的反射区域的宽度与对应于上述副光线的反射区域的宽度不同。
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