[发明专利]带X射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置有效
申请号: | 200710007962.X | 申请日: | 2007-02-01 |
公开(公告)号: | CN101011255A | 公开(公告)日: | 2007-08-08 |
发明(设计)人: | 乔基姆·鲍曼;马丁·恩格尔哈特;乔尔格·弗罗伊登伯格;埃克哈德·亨普尔;马丁·霍海塞尔;托马斯·默特尔迈耶;斯蒂芬·波普斯库;曼弗雷德·舒斯特 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01N23/04;G01N23/20;G01N23/06;H05G1/02;H05G1/62;G01T1/28;G01T7/00;G21K1/06;G21K1/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 光学 光栅 用于 相位 对比 测量 焦点 检测器 装置 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司,未经西门子公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710007962.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。