[发明专利]一种用于快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法及其装置

权利要求书

1.一种用于快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法，其特征在于：是在电磁继电器线圈上施加一个激励电压，用触点监测电路获取电磁继电器的触点接通情况，触点接通的信号送给微处理器MCU，由微处理器MCU分析判断触点接通的时间并将该时间记为t1；与此同时，用电流采样电路获取线圈上逐渐增大的电流，该电流信号经放大后送至微处理器MCU，由微处理器MCU分析判断逐渐增大的电流出现拐点的时间并将该时间记为t2；微处理器MCU将电流出现拐点的时间t2与触点信号接通的时间t1之间的差值记为T，该T值即为该继电器的衔铁超行程的相对值。

2.根据权利要求1所述的一种用于快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法，其特征在于：所述的激励电压由微处理器MCU产生。

3.一种如权利要求1所述的快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法的装置，其特征在于：它包括一电磁线圈驱动电路、一电流采样电路、一放大电路、一微处理器MCU、一触点监测电路；线圈驱动电路的正输出端接至继电器线圈的一端，继电器线圈的另一端通过无触点开关接至线圈驱动电路的负输出端；电流采样电路采用电流互感器，设置在继电器线圈回路中，电流采样电路的输出通过放大电路接至微处理器MCU的输入；微处理器MCU的输出接至线圈驱动电路的输入；触点监测电路通过动静触点接地，触点监测电路的输出接至微处理器MCU的输入；微处理器MCU的控制信号输出接至无触点开关的控制端。