[发明专利]高通量、高探测灵敏度微型偏振干涉成像光谱仪无效

专利信息
申请号: 200710017825.4 申请日: 2007-05-11
公开(公告)号: CN101059370A 公开(公告)日: 2007-10-24
发明(设计)人: 张淳民;赵葆常 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/447
代理公司: 西安文盛专利代理有限公司 代理人: 李中群
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 通量 探测 灵敏度 微型 偏振 干涉 成像 光谱仪
【权利要求书】:

1、一种高通量、高探测灵敏度微型偏振干涉成像光谱仪,其特征在于它由沿入射光向同轴依次设置的前置偏振干涉仪(2)、收集物镜组(3)和面阵探测器(4)组成,其中:前置偏振干涉仪(2)由沿系统光轴同轴依次设置的格兰泰勒偏光棱镜起偏器(21)、萨瓦偏光镜和格兰泰勒偏光棱镜检偏器(24)组成,由目标发出的辐射光进入起偏器(21)后,通过萨瓦偏光镜将由起偏器(21)射出的一束线偏振光横向剪切为两束出射方向平行于入射光束方向的且振动方向相互垂直和有一定间距的二线偏振光,二线偏振光经检偏器(24)后变为沿检偏器(24)偏振化方向振动的线偏振光,二光经收集物镜组(3)汇聚于面阵探测器(4)上并发生干涉,进而由面阵探测器(4)获得目标的形影图像、干涉图和偏振信息,干涉图再经计算机系统处理后即获得目标的光谱,多光谱合成后又可重构物体彩色图像。

2、根据权利要求1所述的偏振干涉成像光谱仪,其特征在于偏振干涉仪中的萨瓦偏光镜由两块厚度相同且毗挨设置的天然单轴负晶萨瓦板(22、23)组成,其光轴相互垂直且分别与系统光轴成45°角,起偏器和检偏器(21、24)均由中间为空气隙的两块劈形天然单轴负晶体组成,它们的光轴平行且位于晶体纵剖面内,光轴取向与竖轴与横轴正向均成45°角,面阵探测器(4)的信号输出端通过联接线与计算机信号处理系统的信号获取输入端联接。

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