[发明专利]基于离散粒子群算法的V-BLAST系统检测方法有效

专利信息
申请号: 200710019005.9 申请日: 2007-11-06
公开(公告)号: CN101159517A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 焦李成;公茂果;侯彪;王爽;刘芳;刘帆;朱明明 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H04L1/06 分类号: H04L1/06;H04B7/04
代理公司: 陕西电子工业专利中心 代理人: 韦全生
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 离散 粒子 算法 blast 系统 检测 方法
【权利要求书】:

1.基于离散粒子群算法的V-BLAST系统检测方法,其具体实现步骤如下:

(1)、初始化粒子群,设定初始参数;其中初始化粒子群的条件是:粒子群大小为m,随机产生各粒子的位置矢量,位置矢量的维数与发射天线数相同,即bi=[bi1,bi2,…,biM]T,其中:i=1,2,…,m,M是发射天线数,符号T表示矩阵转置;设置变异概率为pm,进化代数t=0;设定终止条件是:最大迭代代数为ga;

(2)、计算粒子的适应度,将粒子的当前位置置为个体极值pi,群体中适应度最优的粒子的位置置为全局极值pg;并判断算法是否满足迭代终止条件,若满足终止条件则算法结束,不满足终止条件则转到步骤(3);

(3)、更新粒子位置、执行变异操作、更新个体极值和全局极值、转到上述步骤(2)。

2.根据权利要求1所述的基于离散粒子群算法的V-BLAST系统检测方法,所说的更新粒子位置、执行变异操作、更新个体极值和全局极值,其方法如下:

(1)、更新粒子位置:由新的离散粒子群算法的运动方程更新粒子的位置,由B(t)得到B(t+1),其中:

B(t)=[b1(t),b2(t),…,bm(t)],           bi(t)=[bi1(t),bi2(t),…,biM(t)]T

B(t+1)=[b1(t+1),b2(t+1),…,bm(t+1)],   bi(t+1)=[bi1(t+1),bi2(t+1),…,biM(t+1)]T

(2)、对B(t+1)进行变异操作:依据变异概率pm对B(t+1)中的各粒子的位置向量进行变异操作,即bid(t+1)中的各基因位以概率pm取反,得到B′(t+1),其中:

i=1,2,…,m;d=1,2,…,M;

(3)、更新个体极值pi和全局极值pg:计算B(t+1)、B′(t+1)中各粒子的适应度,在{bi(t),bi(t+1),bi′(t+1)}中选择适应度最优的粒子作为更新后的pi,然后在[p1,p2,…,pm]中选择适应度最优的个体极值作为更新后的pg

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