[发明专利]测试连接器无效

专利信息
申请号: 200710019697.7 申请日: 2007-02-02
公开(公告)号: CN101237105A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 陈铭佑;许修源 申请(专利权)人: 富士康(昆山)电脑接插件有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: H01R33/74 分类号: H01R33/74;H01R12/22;H01R13/629;H01R13/639;G01R1/067
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215316江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试 连接器
【权利要求书】:

1. 一种测试连接器,可电性连接晶片模组至印刷电路板,其包括容设有若干导电端子的绝缘基座、组设于绝缘基座上的浮板、可动连接于绝缘基座上且可相对绝缘基座于断开位置和导通位置之间转换的盖体、置于绝缘基座和盖体之间且可驱动盖体自断开位置向导通位置回复的弹性装置,以及伴随盖体于断开位置和导通位置之间转换的锁固件,其特征在于:所述锁固件朝向盖体内侧设有至少两个枢轴,盖体内侧相应设有若干供枢轴移动的凹槽。

2. 根据权利要求1所述的测试连接器,其特征在于:所述锁固件包括位于盖体两端的第一锁固件和第二锁固件。

3. 根据权利要求2所述的测试连接器,其特征在于:所述测试连接器还包括连接着第一锁固件和第二锁固件的一对弹簧。

4. 根据权利要求3所述的测试连接器,其特征在于:所述第一锁固件和第二锁固件朝向盖体中央位置设有锁扣部,所述测试连接器相应设有扣持于锁扣部上的按压块。

5. 根据权利要求4所述的测试连接器,其特征在于:所述锁扣部与按压块之间设有弹性件。

6. 根据权利要求1所述的测试连接器,其特征在于:所述至少两个枢轴的长度不一致,容设相应枢轴的凹槽深度也不相同。

7. 根据权利要求1或3所述的测试连接器,其特征在于:所述浮板的下端设有若干锁扣钩,所述绝缘基座相应设有扣持锁扣钩的收容槽。

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