[发明专利]有机电致发光显示器检查线的布线方法

说明书

所属技术领域

本发明涉及一种用于有机电致发光显示器检查线的布线方法，特别涉及在有机电致发光显示器的基板玻璃上，整片或单粒点亮检查缺陷时所用的检查线的布线方法，特别是用在玻璃上芯片(COG)方式的有机电致发光显示器产品的设计上。

背景技术

有机电致发光显示器是目前新兴的一种平板显示器，因它有主动发光，对比度高，能薄型化，响应速度快等诸多优点，被公认为是下一代显示器的主力军。其发光原理是在阳极和阴极之间顺序插入各种功能层，包括电荷注入层、电荷传输层和发光层，在电极之间加上适当的电压，器件就能发光。

在有机电致发光显示器的量产过程中，需要对刚生产出来的显示器点亮一段时间进行检查，将不良品剔除，同时也可以对没有缺陷的器件进行老化，使其性能的稳定性和均匀性方面有较大的提高。集成线路(IC)封装技术要求很严，导致封装成本很高，因此人们更倾向于直接将集成线路(IC)装配到玻璃上，即采用玻璃上芯片(COG)方式来装配，这样省去IC的封装，大大的降低了成本。目前，有机电致发光显示器的点亮检查或老化都是在整片基板玻璃上进行，该基板玻璃上排列有许多单个的显示器，将该多个单个的显示器的阴阳极分别引出到后盖外面，然后分别接到电源上，通上电后点亮检查或老化。这种方法用切割或者后盖挖孔的方法将每个显示器的阴阳极暴露出来，以便连接到电源上进行点亮检查或老化。以上方法都是采用将显示器的阴阳极引线从引脚处延长，然后连接电源点亮，而对于像玻璃上芯片(COG)这种显示器是不能将阴极或阳极引线引到显示器边缘的，现有的对显示器的点亮检查或老化方法无法实现对玻璃上芯片(COG)这种显示器进行点亮或老化，因此必须采用新的不从显示器的装配集成线路的引脚端布线的方法布线将显示器的阴阳极与电源连接，然后通电对显示器点亮检查或老化。

发明内容

本发明的目的在于提供一种有机电致发光显示器检查线的布线方法，通过这些检查线对生产好的整片基板玻璃上的有机显示器件特别是玻璃上芯片(COG)产品进行单粒或整片点亮检查或老化，大大提高效率，并降低成本。

本发明的目的可通过以下的技术方案予以实现：一种用于有机电致发光显示器检查线的布线方法，其特征在于，在用于有机电致发光显示器的大片基板玻璃上排列封装有多个有机电致发光显示器，在大片基板玻璃一侧设置布有主干检查线的电源接触块，位于中间的有机电致发光显示器的阴极和阳极通过具有导电性的阴极检查线和阳极检查线与所述主干检查线连接，主干检查线再将多个显示器串联或并联起来，引接到大片基板玻璃一侧的电源接触块，采用新的阴阳极检查线和主干检查线走线方法，其中所述阴极检查线可从显示器的任何一侧连接阴极后布线引出，所述的阳极检查线可从除连接显示器集成电路的阳极引脚端一侧之外的其它侧面布线引出，且阳极检查线只与阳极的另一端头连接而不是从引脚端(装配集成线路端)连接。这样，对显示器进行点亮检查或老化时，只需将和基板玻璃封装的后盖玻璃一侧覆盖上述电源接触块的部分切割掉，即可加电点亮检查或老化。如：采用并联时，线路上各个有机电致发光显示器两侧检查线的长度及粗细必须设计不同，使得各并联支路具有相同的电阻值，保证加电点亮检查或老化时通过各个有机电致发光显示器的电流值相等，达到均匀点亮检查或老化的目的。

本发明还可以作如下措施实现，一种用于有机电致发光显示器检查线的布线方法，其特征在于，在用于有机电致发光显示器的大片基板玻璃上排列封装有多个有机电致发光显示器，在大片基板玻璃面上的显示器之间设置布有阴阳极检查线的电源接触块，将该多个单个的显示器的阴阳极分别通过阴极检查线和阳极检查线引出接到电源接触块上，所述的阴极检查线可从显示器的任何一侧连接阴极后布线引出；所述的阳极检查线可从除连接显示器集成电路的阳极端一侧之外的其它侧面布线引出，且阳极检查线只与阳极的另一端头连接。对于此布线方法，通过切割或者后盖挖孔的方法将电源接触块暴露出来，然后分别接到电源上，通上电后即可对玻璃基板上的单个或全部显示器点亮检查或老化。

与现有技术相比，本发明的优点是：

(1).采用新的布线方法，通过新的阴阳极检查线将显示器的阴、阳极与主干检查线连接，主干检查线再和电源接触块连接，解决了玻璃上芯片(COG)方式的有机电致发光显示器不能在装配集成电路(IC)前进行整片加电点亮测试检查或老化的问题。

(2).本发明的检查线可与各显示器的图案同时制作，几乎不会带来任何附加的成本，且工艺简单。