[发明专利]扫描测试装置

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试装置，尤指一种对电子装置的内部元器件进行除错或更新的扫描测试装置。

背景技术

先前一般基板测试的方式，大都由基板的表面，利用探针法来进行所谓「插入式电路测试(in-Circuit Test，简称ICE)」，以得知元器件的功能正常与否，然而，随着计算机及各种信息产品的生产技术不断的推陈出新，加上现今电子信息产品的设计导向均是以轻薄短小为趋势，使得各种电子产品的内部以及电路板上所装设的芯片及元器件的数量与密度均快速提高，导致安装各元器件的脚端的节距，已逐渐小于测试用探针的节距，因此，先前插入式电路测试的方法即无法满足现今的需求。

因此，另一种称之为「JTAG(即所谓边界扫描测试：Boundary Scan Test)」的测试方式即因应而生，而所谓JTAG的测试方法，是依序扫描集成电路元器件的全部外界输入输出脚端，撷取输入输出端的测试数据，进而测试元器件内部的功能，而一般使用JTAG的测试方式，是可针对元器件的误插接、外界电路与元器件间的输入/输出信号监视、元器件间的互接测试，以及内部逻辑电路的功能测试，不仅测试方便，且由于其测试速度快，故深受各制造厂商所欢迎，此外，经由外界计算机主机即可进行JTAG测试，在使用上极具弹性。

而目前开发中的芯片或微处理器均具有JTAG接口，以供用以进行侦测或除错，然而，当该所述芯片或微处理器在研发完成后，通常该JTAG接口即再无机会进行使用，特别是体积轻薄短小的电子产品，要进行JTAG测试即需拆除外壳，并在JTAG的信号在线加焊连接接口后，方能进行侦测、除错或更新韧体程序，不仅相当不便，且往往对该电子产品造成破坏，因此，便有业者开发出一种「具USB的JTAG除错界面(Debugging Interface)」，该除错接口是具有USB(Universal Serial Bus，万用串行总线)连接端口及一控制芯片，通过该USB连接端口连接在一电子产品上，即可以该控制芯片快速地对该电子产品进行除错和程序烧录，由于方便且即具弹性，深受电子产品相关的使用者及工作者所欢迎。

此外，对于另一种对于「芯片系统」(System-On-Chip，简称SOC)的测试，亦遭遇与上述JTAG测试相同的问题，即一般的芯片系统上虽均设有一通用异步收发传输(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)接口，以辅助软件开发人员在进行程序除错时输出除错信息，但当该芯片系统进入量产阶段后，为避免占用空间，该通用异步收发传输接口即不再保留，若要再进行除错或固件更新，即需拆除产品外壳。前述具USB的JTAG除错接口虽可解决JTAG的测试问题，但却无法对于芯片系统进行除错，且由于前述具USB的JTAG除错接口的价格过于昂贵，亦令消费者望之却步，因为当一产品需花费昂贵的代价购得时，该产品即需具有极优异的功能，方能提高消费者之购买意愿，因此，如何使用最低成本以解决上述问题，即成为相关制造商的一大挑战。

发明内容

有鉴于前述使用JTAG的测试方法，成本过于昂贵及无法对芯片系统进行测试等诸多缺失，发明人经过长久努力研究与实验，终于开发设计出本发明的一种扫描测试装置，以期降低所需的成本，并借此提供更多测试功能。

本发明的一目的，在于提供一种扫描测试装置，且该扫描测试装置设有一扫描测试单元，在该扫描测试单元上设有一信号传输部，该信号传输部与该扫描测试装置内所设的一标准连接接口相连接，而该标准连接接口是另外与一电子装置相连接，通过该标准连接接口，该扫描测试单元与该电子装置的内部元器件之间，是可传送边界扫描测试数据或芯片系统测试数据，以对该电子装置的内部元器件进行侦测、除错或更新等动作。

通过本发明所述，可很方便的对芯片系统进行测试，并且该测试简单，测试速度快，且成本较低，另，还可提供多种测试功能。

附图说明

图1为本发明的扫描测试装置示意图；

图2为本发明的扫描测试装置电路图。

具体实施方式

本发明为一种扫描测试装置，请参阅图1所示，其为一扫描测试单元2及一标准连接接口4所组成，其中该扫描测试单元2设有一信号传输部21，而该标准连接接口4的一侧供与一电子装置5上所设的另一标准连接接口50的连接，该标准连接接口4的另一侧则与该信号传输部21相接，如此，通过该标准连接接口4，所述扫描测试单元2与电子装置5的内部元器件间，是可进行边界扫描测试数据或芯片系统测试数据的传输，以对所述电子装置5进行侦测、除错或更新等动作。