[发明专利]一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法无效
申请号: | 200710036522.7 | 申请日: | 2007-01-17 |
公开(公告)号: | CN101226629A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | 黄寅;罗巍 | 申请(专利权)人: | 智多微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 200122上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采用 小数 累加 步长 计算 双线 性插值 方法 | ||
1.一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该方法包括下列步骤组成:
(1)设置原图分辨率为M,原图分辨率M与目标分辨率N的比值M/N;
(2)累加小数比例尺M/N;
(3)扣除整数,得小数alpha,直接寄存小数形式的偏移,计算目标像素。
2.根据权利要求书1所述的一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该方法包括下列步骤组成:
(1)设置原图分辨率为M,原图分辨率M与目标分辨率N的比值M/N;
(2)累加小数比例尺M/N;
(3)扣除整数,得小数alpha,直接寄存小数形式的偏移,计算目标像素:
第1点,原图和目标图重合,alpha1=0;原图像素区间为(1,2),
第2点,alpha2=alpha1+(M/N)=(M/N),判断alpha2>1?
是则alpha2=alpha2-1,原图像素区间更新为(2,3);
否则alpha2不用-1,原图像素区间仍为(1,2),
第3点,alpha3=alpha2+(M/N),重复类似alpha2的判及更新步骤,
第4点, ……;
如此重复上述步骤直至原图的边界,目标图输出完毕。
3.根据权利要求书1所述的一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该方法在原图上,以原图分辨率与目标图分辨率之比为步长累加,即得到目标图在原图上的坐标偏移,偏移的反比即权重,对原图上两相邻像素的值加权即可计算双线性插值的目标像素。
4.根据权利要求书1所述的一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该方法适合用于“选择最近点”的插值计算方法。
5.根据权利要求书4所述的一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该“选择最近点”的插值计算方法在原图上,以原图分辨率与目标图分辨率之比步长累加,但无须计算权重,只需检测偏移是否大于一半,若是则目标像素以右方或下方的值输出,否则以左方或上方的值输出即可。
6.根据权利要求书1所述的一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该方法的精度取决于几个条件,包括像素值的位数,目标尺寸的大小,以及要求的最后结果的精度;设输入的步长误差为delta,则对目标分辨率N,目标像素最大的误差范围是N*delta,因理论步长的分母为目标分辨率N,即两个可能的目标像素理论位置间距最小为1/N;故为确保目标像素的可能范围均不混叠,应保证前一目标像素的上界小于后一目标像素的下界x+N*delta<x+1/N-N*delta其中,x代表前一像素的理论位置,由上式可得delta上限,其倒数即为输入步长至少需要的精度。
7.根据权利要求书1所述的一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该方法使用“选择最近点”的插值方式时的精度取决于几个条件,包括像素值的位数,目标尺寸的大小,以及要求的最后结果的精度;在“选择最近点”的算法下,需要判断是否偏移大于0.5,大于0.5的最小偏移应为0.5+1/N,它的下界为Judge_threshold=0.5+1/N-N*delta;只需累加得到的偏移比上式大,即可确定应选择下方或右方的原像素值,即原图像素区间的上边界,否则应选左方或上方,即原图像素区间的下边界。
8.根据权利要求书1所述的一种采用小数累加步长计算双线性插值的方法,其特征在于该方法由软件事先计算M/N的结果。
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