[发明专利]一种非易失性储存器件选择栅极的制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体制造领域，特别涉及一种非易失性储存器件选择栅极的制作方法。

背景技术

在非易失性存储器例如与非逻辑门(NAND)闪存单元的制作过程中，多条字线(Wordline)平行排列用于储存信息，该多条平行字线的两边分别设置有用来控制字线漏极和源极的控制晶体管。

参见图1和图2，该控制晶体管的选择栅极1制作在有源区2和沟槽隔离区3上，其中，该有源区2从下到上依次淀积有绝缘多晶硅层20和抛光缓冲层(未图示)，选择栅极1由依次层叠的第一多晶硅层10、绝缘层11(在图1中未图示)和第二多晶硅层12组成，其中，绝缘层11上开设有接触窗口110，第一多晶硅层10和第二多晶硅层12通过接触窗口110连接，而绝缘层11由第一二氧化硅层、氮化硅层和第二二氧化硅层组成(未图示)。

现有的选择栅极1的制作方法包括以下步骤：首先通过热磷酸湿法刻蚀去除有源区2的抛光缓冲层，然后淀积第一多晶硅层10并使其平坦化，此时第一多晶硅层10恰和沟槽隔离区3等高，之后淀积绝缘层11，接着光刻并刻蚀以形成接触窗口111，该接触窗口111为一连续的长条，最后淀积第二多晶硅层12，如此第二多晶硅层12通过接触窗口111和第一多晶硅层11连接。

但是，由于上述第一多晶硅层10被沟槽隔离区3隔成对应个分段，如此在淀积绝缘层11后光刻形成接触窗口111时，只有连续的长条状窗口才能满足第一多晶硅层10和第二多晶硅层12的连接需求，如此光刻接触窗口111时所使用的光罩的最小特征尺寸由长条状窗口111的窄边决定，致使需使用最小特征尺寸较小的光罩(例如为193nm)来进行光刻，如此，将会增大光罩的制造成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种非易失性储存器件选择栅极的制作方法，通过所述方法可使用最小特征尺寸较大的光罩进行光刻。

本发明的目的是这样实现的：一种非易失性储存器件选择栅极的制作方法，用于在制成沟槽隔离区和有源区后制作选择栅极，其中，该有源区从下到上依次淀积有绝缘多晶硅层和抛光缓冲层，该选择栅极由第一多晶硅层、绝缘层和第二多晶硅层组成，其中，该绝缘层上开设有供第一多晶硅层和第二多晶硅层相连接的接触窗口，该方法包括以下步骤：(1)去除有源区的抛光缓冲层；(2)光刻并刻蚀沟槽隔离区以使绝缘多晶硅层凸出于该沟槽隔离区；(3)淀积第一多晶硅层并使该第一多晶硅层平坦化；(4)淀积绝缘层；(5)光刻并刻蚀以形成接触窗口，该接触窗口为多个排布在同一直线上的长方形；(6)淀积第二多晶硅层。

在上述的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中，该抛光缓冲层为氮化硅层。

在上述的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中，该绝缘层由第一二氧化硅层、氮化硅层和第二二氧化硅层组成。

在上述的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中，该接触窗口总面积的大小恰能满足选择栅极的参数的需求。

在上述的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中，通过化学气相沉积的方法淀积第一多晶硅层。

在上述的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中，通过化学气相沉积的方法淀积绝缘层。

在上述的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中，通过化学气相沉积的方法淀积第二多晶硅层。

与现有的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中，因第一多晶硅层被分割成分段故需使用连续的长条状的接触窗口相比，本发明的非易失性储存器件选择栅极的制作方法中光刻并刻蚀沟槽隔离区而使绝缘多晶硅层凸出于该沟槽隔离区，如此在淀积第一多晶硅层时即可形成连续的多晶硅层，相应的接触窗口即可采用间断的长方形，后续在光刻形成接触窗口时可使用最小特征尺寸大些的光罩，可大大节约光罩制作成本。

附图说明

本发明的非易失性储存器件选择栅极的制作方法由以下的实施例及附图给出。

图1为通过现有的非易失性储存器件选择栅极的制作方法制成的选择栅极的剖视图；

图2为现有的具有接触窗口的绝缘层的俯视图；

图3为进行本发明的非易失性储存器件选择栅极的制作方法前的晶圆的剖视图；

图4为本发明的非易失性储存器件选择栅极的制作方法的实施例的流程图；

图5为完成图4中步骤S40后的晶圆的剖视图；

图6为完成图4中步骤S41后的晶圆的剖视图；

图7为完成图4中步骤S42后的晶圆的剖视图；

图8为完成图4中步骤S43后的晶圆的剖视图；

图9为完成图4中步骤S44后的晶圆的剖视图；

图10为完成图4中步骤S45后的晶圆的剖视图。