[发明专利]测试设备

说明书

技术领域

本发明有关于一种测试装置，且特别是有关于一种输出重置讯号的测试装置。

背景技术

随着集成电路制成的进步，各种电子装置的发展也越来越快，而整体市场规模也越来越大。整个生产过程从晶片制作、封装、焊接到测试，都有着各自的程序及过程。

在测试过程中，常常会对电子装置输入一个重置讯号进行测试，随着重置讯号高低电位间的变化，来测试电子装置是否可以正常运作。传统的测试设备100的系统请参照图1。传统测试设备100具有控制端102、检测讯号端104、开关电路106与待测电子装置连接端108。

控制端102用来控制开关电路106的开启与否，藉以决定检测讯号端104的检测讯号是否流入待测电子装置连接端108。然而，当开关电路106损坏时，待测电子装置连接端108将一直存在一个高电压。此时，可能会破坏待测的电子装置。

但传统测试设备100并无法主动回馈出开关电路106已经损坏的情形，只有在测试时，当电子装置出现大量异常的损毁情形，才能推知开关电路106可能出现问题，如此造成测试过程中时间上的浪费，更增加了电子装置的整体成本。

因此如何改良测试设备，主动回馈出开关电路已经损坏的情形，藉以加快电子装置的测试过程，并节省电子装置的整体成本，为现今厂商所想达到的目的。

发明内容

因此本发明的目的就是在提供一种测试设备，其特征在于可主动回馈出开关电路已经损坏的情形。

本发明的另一目的是在提供一种测试设备，藉以避免大量电子装置于测试中损坏，达成加快电子装置的测试过程，并节省电子装置整体成本。

根据本发明的上述目的，提出一种测试设备，至少包含开关电路与警示装置。开关电路用以控制检测讯号是否传送至待测电子装置。警示设备则连接于开关电路与电子装置间，当开关电路损毁，警示装置将持续发出一个警示讯息。

而根据本发明的目的，提出一个测试设备的实施例，此测试装置至少包含开关电路与发光设备。开关电路用以控制检测讯号是否传送至待测电子装置。发光设备连接于该开关电路与该电子装置之间，当开关电路损毁，发光设备将持续发光状态。

于测试装置上加装一个警示设备，当测试装置损毁时，警示装置会持续发出警示讯息。透过警示装置，可以告知测试装置内的开关电路损毁，必须修理。如此，测试设备主动回馈出开关电路已经损坏的情形，可避免大量电子装置于测试中损坏，并藉以加快电子装置的测试过程，并节省电子装置的整体成本。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，结合附图详细说明如下：

图1为传统测试设备系统方块图。

图2绘示了本发明测试设备系统方块图。

图3绘示了本发明第一实施例的测试设备电路图。

图4绘示了本发明第二实施例的测试设备电路图。

具体实施方式

本发明实施例是将传统测试装置加装一个警示设备，当测试装置的开关电路损毁时，将使警示设备持续发出警示讯息，回馈出开关电路已经损坏的情形。熟悉本技术领域者可在成本与实际操作的考量下，更改警示装置的种类及内部元件参数，应亦符合本发明的精神并包含于本发明的范围中。

请参照图2，此为本发明各实施例中测试设备200系统方块图。测试设备200具有控制端202、检测讯号端204、开关电路220、待测电子装置连接端206与警示设备210。控制端202用来控制开关电路220的开启与否，藉以决定检测讯号端204的检测讯号是否流入待测电子装置连接端206。

为了回馈出开关电路220已经损坏的情形，警示设备210连接于开关电路220与待测电子装置连接端206之间。更进一步说明，警示设备210的一端连接于开关电路220与待测电子装置连接端206之间，另一端则接地。由于当开关电路220损毁时，待测电子装置连接端206会一直存在一个高电压。因此透过适当的设计，可使警示设备210于开关电路220损毁时，透过此高电压来作为动力源，让警示装置210持续发出一警示讯息。

以下将列举数个实施例来说明本发明所实际带来的功效，其中相同的元件将以同样的标号标明。

第一实施例

请参照图3，此为第一实施例的测试设备电路图。开关电路220包含一个N型金属氧化半导体322以及一个P型金属氧化半导体324，两个金属氧化半导体322及324并互相连结，藉以构成开关电路220，来控制检测讯号端204的检测讯号是否流入待测电子装置连接端206。