[发明专利]一种无碲存储材料、制备方法及应用有效
申请号: | 200710040302.1 | 申请日: | 2007-04-29 |
公开(公告)号: | CN101049934A | 公开(公告)日: | 2007-10-10 |
发明(设计)人: | 张挺;宋志棠;刘波;刘卫丽;封松林;陈邦明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | C01B33/06 | 分类号: | C01B33/06;C23C14/35;C23C14/06;G11B7/24 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 潘振甦 |
地址: | 200050*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储 材料 制备 方法 应用 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于存储器的存储材料、制备方法及应用,更确切地说涉及一种无碲存储材料、制备方法及应用。属于存材料领域。
背景技术
相变存储器的研究是目前存储器研究的热点,具有广阔的市场前景,目前相变存储器大致可分为两类,一类是已经商业化的多媒体数据光盘(DVD),另一类是正处于研发中的硫系化合物随机存储器(C-RAM,Chalcogenide random access memory)。C-RAM集高速、高密度、结构简单、成本低廉、抗辐照、非易失性等优点于一身,是目前被广泛看好的下一代存储器最有力的竞争者,有着广阔的市场前景,它将替代目前广泛使用的闪存,从而在电子存储器领域占据重要一席,故它的研发受到了全球各大半导体公司的强烈关注。
而在C-RAM研发中,作为存储器媒介的相变材料性能的提升是是提高C-RAM器件性能的关键技术之一。目前在C-RAM中用较多的相变存储材料是锗锑碲合金(Ge-Sb-Te),特别是Ge2Sb2Te5,是利用可逆相变前后电阻的差异实现数据存储。虽然Ge2Sb2Te5在热稳定性、读写速度上有着比较突出的性能,但是同样面临着严峻的问题:首先,材料的结晶温度较低(约为165℃左右),虽然基于Ge2Sb2Te5的存储器数据能够在110℃下保持10年,但是存储器在高温时依然面临着数据丢失的危险;其次,材料中的碲对人体和环境有着负面的影响,与目前国家倡导的环保政策格格不入;此外,碲元素因着它的低熔点、低蒸汽压,容易在高温制备过程中产生挥发,它对半导体工艺的污染问题在目前也是属于未知数,对半导体生产线有一定威胁,所以极大限制和阻碍了含碲相变存储器的开发和研究;最后,Ge-Sb-Te材料是三种元素的合金,各种元素都具有不同的化学和物理性能,给微细加工等后续工艺带来不便。
综上所述,目前相变存储器用相变材料还有一些需要改进的地方,特别是材料中的碲如果能被取代或者去除,那将对相变存储器的发展提供一个新的机遇。这正是本发明的发明基点。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于存储器的无碲存储材料、制备方法及应用,所提供的存储材料是一种具有可逆变化能力的材料硅-锑(SixSb100-x,0<x<90),可以在外部能量作用下可逆变化的材料,在可逆变化前后,材料的电阻率和反射率有较大的变化,是用于存储器的理想材料。此外,它还是一种环境友好的材料,成份简单,便于成份的严格控制,同时也便于后续的半导体工艺加工。通过控制硅-锑材料中硅的成份,可以精确调节材料的结晶温度和熔点。在一个适当的成份范围内,该材料具有较高的结晶温度和较好的可逆相变能力,基于该材料的存储器具有较好的性能。
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