[发明专利]一种转移硅片的设备及使用方法无效
申请号: | 200710041178.0 | 申请日: | 2007-05-24 |
公开(公告)号: | CN101312141A | 公开(公告)日: | 2008-11-26 |
发明(设计)人: | 郭里辉 | 申请(专利权)人: | 上海交大泰阳绿色能源有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L31/18;B65G49/07 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200240上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 转移 硅片 设备 使用方法 | ||
1、一种转移硅片的设备以及方法,其特征在于,由:工作台01、传送带02、硅片感应器03、气孔04、滚轴05、升降机构06组成。硅片放置底座、硅片叠层、硅片存在信号发送器、硅片存在感应器件、硅片存在信号处理机构和底座升降伺服机构构成该套装置的整个系统,可上下移动的底座与托盘升降伺服机构连接,硅片传输装置与硅片升降机构相连接,硅片叠层设于底座上,硅片传输装置与硅片感应器件相连接,硅片感应器件置于硅片经硅片传输带输出后到达的位置。
2、放置在升降机构上的可以是硅片叠层也可以是放置硅片的装置(如花篮)等放置叠装硅片的装置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造