[发明专利]一种低压发光宏观ZnO半导体单晶材料的制备方法无效

专利信息
申请号: 200710041647.9 申请日: 2007-06-06
公开(公告)号: CN101071835A 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 郁可;张宁;朱自强;李琼;王翠翠 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01S5/30;C30B33/00;C09K11/54
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 代理人: 程宗德
地址: 200062*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 低压 发光 宏观 zno 半导体 材料 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种低压发光宏观ZnO半导体单晶材料的制备方法,其特征在于包括以下步骤:

第一步:将宏观ZnO半导体单晶材料固定在衬底上,放入等离子体处理器的真空室,抽真空至真空度1~5Torr;

第二步:通入H2气体,调整真空室通气阀门,使真空室中的真空度保持在10~20Torr;

第三步:打开等离子体处理器开关,调节离子体处理器功率为170~380W,使氢等离子气体轰击样品30~60分钟,得低压发光宏观ZnO半导体单晶材料。

2.如权利要求1所述的低压发光宏观ZnO半导体单晶材料的制备方法,其特征在于衬底材料为石英片或玻璃载玻片。

3.如权利要求1所述的低压发光宏观ZnO半导体单晶材料的制备方法,其特征在于宏观ZnO半导体单晶材料为宏观超长ZnO单晶片、宏观超长ZnO单晶杆或者宏观超长ZnO单晶梳。

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