[发明专利]改进的存储式离子迁移率谱仪及其控制方法有效

专利信息
申请号: 200710044765.5 申请日: 2007-08-10
公开(公告)号: CN101363815A 公开(公告)日: 2009-02-11
发明(设计)人: 张延会;赵文渊;孙刚;张燊 申请(专利权)人: 上海新漫传感技术研究发展有限公司
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 吴林松
地址: 201800*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 改进 存储 离子迁移率 及其 控制 方法
【权利要求书】:

1.改进的存储式离子迁移率谱仪,包括电离区和漂移区,在该电离区和漂 移区之间设置有离子存储区,该离子存储区包括第一栅网电极、电离腔、第二栅 网电极和第三栅网电极,该第一栅网电极置于电离腔前,该第二栅网电极置于电 离腔后,第三栅网置于第二栅网电极后、漂移区前,其特征在于:在该离子存储 区工作过程中,通过依次在电离腔和第三栅网电极上加脉冲电压使离子存储后进 入漂移区。

2.根据权利要求1所述的改进的存储式离子迁移率谱仪,其特征在于:当 工作在正离子模式下,第一栅网电极始终接正高压V1;存储阶段,电离腔、第二 栅网电极均接正电压V2,第三栅网电极接正电压V3,其中V1>V3>V2,经过时间T1后,在电离腔加正向脉冲电压PV1,所加的时间T2就是脉冲的宽度;又过一段时 间T3后向第三栅网电极加一负向脉冲电压PV2,使得V2>V3-PV2,其中T3<T2

3.根据权利要求1所述的改进的存储式离子迁移率谱仪,其特征在于:工 作在负离子模式下,第一栅网电极始终接负高压-V1;存储阶段,电离腔、第二栅 网电极均接负电压-V2,第三栅网电极接负电压-V3,其中-V1<-V3<-V2,经过时间 T1后,在电离腔加负向脉冲电压PV1,所加的时间T2就是脉冲的宽度;又过一段 时间T3后向第三栅网电极加一正向脉冲电压,脉冲幅度为PV2,使得-V2<-V3+PV2, 其中T3<T2

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