[发明专利]集成电路芯片接口模块的回环测试结构

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，特别涉及集成电路芯片设计及测试技术领域，具体是指一种集成电路芯片接口模块的回环测试结构。

背景技术

随着电子技术的飞速发展，特别是数字技术的飞速发展，各种功能的集成电路芯片层出不穷。为了和其它芯片或设备连接，几乎所有的芯片都有一定数量的控制接口。在一款完善的芯片面世前，它的接口模块需要经过验证，当一款成熟的芯片提供给客户后，客户也会对相应的功能进行验证。对于具有收发功能的模块，回环验证是一个非常方便的测试方法。回环验证的主要思想是把一个模块的收和发信号线在芯片内部互联，通过自己接收自己发送的信号来验证模块的收发功能。特别是在暂时不具备和接口模块连接的设备时，又需要对接口模块进行验证，回环测试是必不可少的。

现有技术中，常规的回环测试是芯片内回环。也就是通过控制寄存器的配置，在芯片内把发送的信号送回接收信号线，达到相应接口收发功能测试的目的。这种测试方法有一个很大的问题，就是它只在功能测试方面是可靠的，在时序测试上是不可靠的。

其原因是，一般情况下，在芯片内部同一模块内，接收和发送是用同一个时钟信号控制的，所以发送的信号直接送回到接收信号线上时，其延时是非常小的，只要功能正确，其回环测试就会通过。但当真实设备连接上时，由于现在接收的信号是由真实的设备产生的，传输途径中有一定的延时，可能导致无法正确接收数据。

综上所述，用现有回环技术测试通过的芯片，一定量应用后发现与真实设备的连接存在问题，可能会造成大量的经济和时间上的损失。

发明内容

本发明的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够有效对芯片收发信号间的时序稳定特性进行严格地外部回环测试、电路结构简单灵活、测试过程方便快捷、工作性能稳定可靠、适用范围较为广泛的集成电路芯片接口模块的回环测试结构。

为了实现上述的目的，本发明的集成电路芯片接口模块的回环测试结构具有如下构成：

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构，包括连接于芯片接口模块上的第一发送信号线和第一接收信号线、连接于芯片测试平台板上的第二发送信号线和第二接收信号线，其主要特点是，所述的第一发送信号线通过一个发送信号选择开关与所述的第二发送信号线相连接，所述的第一接收信号线通过一接收信号选择开关与所述的第二接收信号线相连接，所述的发送信号选择开关与接收信号选择开关之间跨接一个串联有时序延时模块的回环测试线，所述的发送信号选择开关将第一发送信号线选择性地与第二发送信号线或者回环测试线相连通，所述的接收信号选择开关将第一接收信号线选择性地与第二接收信号线或者回环测试线相连通。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的时序延时模块为延时匹配网络。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的第一发送信号线与发送信号选择开关之间还接入有发送时序延时模块。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的发送时序延时模块为发送延时匹配网络。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的第一接收信号线与接收信号选择开关之间还接入有接收时序延时模块。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的接收时序延时模块为接收延时匹配网络。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的发送信号选择开关可以为手动开关。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的发送信号选择开关也可以为电子控制开关，所述的芯片接口模块上还连接有开关控制线，所述的开关控制线与该电子控制开关相连接。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的接收信号选择开关可以为手动开关。

该集成电路芯片接口模块的回环测试结构的接收信号选择开关也可以为电子控制开关，所述的芯片接口模块上还连接有开关控制线，所述的开关控制线与该电子控制开关相连接。

采用了该发明的集成电路芯片接口模块的回环测试结构，由于其采用了芯片外部的回环测试的电路结构形式，从而能够根据实际情况在收发信号线间加入一定量的延迟或干扰，达到更贴近实际运行状态的测试效果，从而能够测试出芯片在时序方面的稳定特性，能够更及时、更全面的发现芯片接口模块中可能存在的隐患和问题；同时本发明中还使用了额外的控制线或者手动方式来接通和断开测试通路，从而不会干扰与其它接口设备的连接，这些控制线可以通过控制寄存器来控制，控制过程方便快捷，电路结构简单灵活，工作性能稳定可靠，适用范围较为广泛。

附图说明

图1为本发明的集成电路芯片接口模块的回环测试结构的电路原理图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的技术内容，特举以下实施例详细说明。