[发明专利]显示器件清晰度测试卡及其清晰度的测量方法无效

专利信息
申请号: 200710047145.7 申请日: 2007-10-18
公开(公告)号: CN101144842A 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 龙沪强 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M11/00;G01M11/02;G09G3/00;H04N17/00
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 显示 器件 清晰度 测试 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种显示器件清晰度测试卡,其特征是,包括:

测试中心基准线(1a,1b),由一组亮度为100%相关垂直的水平测试中心基准线(1a)和垂直测试中心基准线(1b)所构成,用于建立和确定测试图形的水平和垂直的测试中心基准;

测量对称标志线(2),由一对亮度为100%的相互交叉的对角对称的标志线所构成,用于建立和确定测试图形的对角对称的基准;

图形基准中心(3),由一组亮度为100%构成测试图形的水平与垂直中心的测试中心基准线和一对亮度为100%构成测试图形的对角对称基准的测量对称标志线的交叉点所构成,用于建立和确定测试图形的基准中心;

扇形测试线条组(4a,4b),由水平清晰度测试线(4a)和垂直清晰度测试线(4b)构成两组扇形测试线条组,其中,水平清晰度测试线(4a)是由若干以图形基准中心(3)为圆点并水平对称于垂直测试中心基准线(1b)两侧30°角度以内的范围内向上下两边成射线状分布的亮度为100%的测试线条构成;垂直清晰度测试线(4b)是由若干以图形基准中心(3)为圆点并垂直对称于水平测试中心基准线(1a)两侧15°角度以内的范围内向左右两侧成射线状分布的亮度为100%的测试线条构成,用于直接显示和反映测试图形的水平和垂直清晰度;

测量基准圆环(5),是由若干以图形基准中心(3)为圆心并根据显示器件的应用精度或者显示清晰度所确定的其长轴直径和短轴直径尺寸、亮度为100%的椭圆形圆环所构成,用于构成可结合扇形测试线条组(4a,4b)的测试线条直接显示和反映被测显示器清晰度的刻度标尺或范围;以及,

测试图形边界(6),由适应于被测显示器件的显示面板基本尺寸、亮度为100%线条所构成,用于建立和确定测试图形的边界,形成测试图形宽幅比的基本尺寸,并与测试图形基准中心(3)一起构成测试图形应用的调试基准。

2.如权利要求1所述的显示器件清晰度测试卡,其特征是,所述测量基准圆环(5)是测试清晰度的标尺基准,并采用七个具有不同长轴直径和短轴直径的椭圆形圆环且从测试图形基准中心往外界延伸的各椭圆形测量基准圆环的长轴直径和短轴直径分别等于1/5L1、3/10L1、2/5L1、3/5L1、4/5L1、9/10L1和L1,以及1/5L2、3/10L2、2/5L2、3/5L2、4/5L2、9/10L2和L2,其中L1和L2分别是被测显示器件的宽度和高度。

3.如权利要求1所述的显示器件清晰度测试卡,其特征是,所述测量基准圆环(5)是以2/5L1为长轴直径和2/5L2为短轴直径的椭圆形圆环定义为被测显示器件基本清晰度的测试基准圆环。

4.如权利要求1所述的显示器件清晰度测试卡,其特征是,所述扇形测试线条组(4a,4b)采用射线状且亮度为100%的线条作为测试线条,以1∶4亮暗线条的线宽间隔均匀分布在所述2/5L1为长轴直径和2/5L2为短轴直径的基本清晰度测试圆环(5)上,且以测试图形基准中心(3)为圆心成射线状在水平对称30°角度和垂直对称15°角度以内的范围内向上下两边和向左右两侧延伸的。

5.如权利要求4所述的显示器件清晰度测试卡,其特征是,所述扇形测试线条组(4a,4b)中的水平清晰度测试线条(4a)均匀分布在水平对称30°角度范围内以2/5L2为短轴直径的基本清晰度测试圆环(5)上,所观察到的在基本清晰度测试圆环(5)上的水平清晰度测试线条的清晰度直接反映和显示被测显示器件的全屏水平清晰度。

6.如权利要求4所述的显示器件清晰度测试卡,其特征是,所述扇形测试线条组(4a,4b)中的垂直清晰度测试线条(4b)均匀分布在垂直对称15°角度范围内以2/5L1为长轴直径的基本清晰度测试圆环(5)上,所观察到的在基本清晰度测试圆环(5)上的垂直清晰度测试线条的清晰度直接反映和显示被测显示器件的全屏垂直清晰度。

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