[发明专利]多元化合物半导体单晶的制备方法与生长装置无效
申请号: | 200710049049.6 | 申请日: | 2007-05-09 |
公开(公告)号: | CN101122045A | 公开(公告)日: | 2008-02-13 |
发明(设计)人: | 朱世富;赵北君;何知宇;陈观雄 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | C30B11/00 | 分类号: | C30B11/00 |
代理公司: | 成都科海专利事务有限责任公司 | 代理人: | 黄幼陵 |
地址: | 610065四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多元 化合物 半导体 制备 方法 生长 装置 | ||
1.一种多元化合物半导体单晶的制备方法,以多元化合物多晶体粉末为原料,以石英坩埚(14)为生长容器,其特征在于依次包括以下工艺步骤:
①清洁坩埚
清洁坩埚是将坩埚内壁进行去除杂质的处理;
②装料并除气封结
将多元化合物多晶体粉末装入清洁后的坩埚内,然后在200℃~350℃下抽空除气,当坩埚内的气压降至10-3~10-4Pa时封结;
③晶体生长
A、将封结后的坩埚(14)放入单晶生长炉内,让坩埚尖部位于上炉加热器的控温热偶(4)之上3~5cm处,将上炉以2~3℃/min的速率升温至多元化合物熔点以上50℃~100℃,下炉以同样速率升温至多元化合物熔点以下、脱熔分解温度以上,辅助加热器的控制温度为多元化合物的熔点温度,保温24小时~36小时,
B、上述保温结束后,以10mm/h~15mm/h的速率下降坩埚尖部至辅助加热器的控温热偶(7)处,保温4小时~6小时后以0.2mm/h~0.5mm/h的速率下降坩埚开始晶体生长,经过2周~4周时间,让熔体全部移动通过固-液界面(15);
④退火与冷却
完成单晶体生长后将坩埚下降至下炉等温区退火2天~4天,然后断电,让晶锭随炉冷却至室温后取出。
2.一种多元化合物半导体单晶生长装置,包括炉体(1),其特征在于还包括各自独立加热控温的上炉加热器、辅助加热器和下炉加热器,上炉加热器和辅助加热器的发热体(2)(5)沿炉体的轴向自上而下依次安装在炉体上,下炉加热器的发热组装体(11)安装在下部升降机构(12)上,其主体伸入炉体并位于辅助加热器的发热体之下,
在辅助加热器的发热体分布区l2,自下而上重叠安装了由下层导热环(9)、中层导热环(8)和上层保温隔热环(6)组成的复合保温隔热层,下层导热环(9)、中层导热环(8)和上层保温隔热环(6)的内径与多元化合物半导体单晶生长坩埚的外形尺寸相匹配,
辅助加热器的控温热偶(7)安装在上层保温隔热环(6)与中层导热环(8)之间,上炉加热器的控温热偶(4)安装在上炉加热器发热体的下端,下炉加热器的控温热偶(10)安装下炉加热器发热体的上端,上炉温度监测热偶(3)安装在上炉加热器发热体分布区l1的中部。
3.根据权利要求2所述的多元化合物半导体单晶生长装置,其特征在于下层导热环(9)的外径大于中层导热环(8)和上层保温隔热环(6)的外径,且下层导热环(9)与炉体的保温隔热层相接。
4.根据权利要求2或3所述的多元化合物半导体单晶生长装置,其特征在于上层保温隔热环(6)由保温隔热棉制作,中层导热环(8)由刚玉制作,下层导热环(9)由水泥石棉板制作。
5.根据权利要求2或3所述的多元化合物半导体单晶生长装置,其特征在于辅助加热器的发热体分布区l2的长度为8cm~12cm。
6.根据权利要求4所述的多元化合物半导体单晶生长装置,其特征在于辅助加热器的发热体分布区l2的长度为8cm~12cm。
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