[发明专利]按键系统及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术，特别涉及按键的扫描检测技术。

背景技术

目前各生产厂家生产碟机、卫星接收机、遥控器等需要使用按键的产品大部分都采用矩阵式扫描电路连接到MCU(按键编码集成电路)进行按键扫描检测确认某个按键的状态；采用该种按键扫描方式参见图1，图中涉及对4×4个按键的按键扫描电路，其中，S15～S0表示按键，PA3～PA0为行导线输入端，初始化为带上拉电阻的输入口，PA7～PA4为列导线输出端，初始化为输出低电平。扫描方法：首先由输出口PA7～PA4向所有的列导线输出低电平，读取各行导线PA3～PA0的状态，若行导线状态全为高电平，则表明无键按下，若行导线状态中有低电平，则表明有键按下，再对每一条列导线进行扫描，即：PA7～PA4四条列导线分别输出低电平，在每次输出低电平期间，读取各行导线PA3～PA0的状态，确定键值。例如：PA7～PA4输出″1011″，此时若读取PA3～PA0的状态为″1110″，则表明按键S4被按下。4×4个按键需要8个GPIO(通用输入输出)口线。若扫描n×n个按键，则需要2n个GPIO口线。这种矩阵扫描检测方式容易受到MCU的GPIO口线的限制而影响按键的数量，如果按键数量多，那么就必须更换有更多GPIO口的MCU，从而增加了系统成本，也不利于产品的小型化。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，针对现有矩阵按键扫描电路占用硬件资源多，系统成本高的问题，提供一种按键系统及其检测方法。

本发明解决所述技术问题采用的技术方案是，按键系统，包括按键编码集成电路、n条行导线、m条列导线、m只二极管，且n≥m＞1；行导线与按键编码集成电路连接；n条行导线与m条列导线以n×m矩阵分布，m只二极管分布于矩阵的交点上，二极管阳极接行导线，阴极接列导线，且每条行导线最多与一只二极管的阳极连接，每条列导线与一只二极管的阴极连接；矩阵的其余交点上则分布按键，按键按下时，行导线和列导线接通。

按键系统的按键检测方法，包括下列步骤：

a.将n条行导线置为高电平，然后扫描n条行导线，判断是否有低电平出现，有低电平出现则进入步骤b，无低电平出现则进入步骤c；

b.检测到电平为低电平的行导线上接地的按键被按下；

c.按如下方法检测位于n×m矩阵交点上的按键：

将第i条行导线置为低电平；

扫描第j条行导线是否为低电平，j≠i；

若是，则第j条行导线通过二极管连接的列导线与第i条行导线的交点上的按键被按下。

对上述第j条行导线通过二极管连接的列导线可以通过软件确定：结合按键系统的电路图中二极管的具体分布，在程序中记录二极管所处的行导线和列导线为(j，r)，j与r一一对应；当将第j条行导线作为扫描线，扫描第j条行导线是否为低电平时，通过程序中记录的j所对应的r，则确定出第j条行导线通过二极管连接的列导线为第r条列导线。

特别的，当m只二极管分布于n×m矩阵对角线的交点上时，二极管所处的行导线和列导线为(k，k)，则本发明的按键系统的按键检测方法，包括下列步骤：

a.将n条行导线置高电平，然后扫描n条行导线，判断是否有低电平出现，有低电平出现则进入步骤b，无低电平出现则进入步骤c；

b.检测到电平为低电平的行导线上接地的按键被按下；

c.按如下方法检测位于n×m矩阵交点上的按键：

将第i条行导线置为低电平；

扫描第k条行导线是否为低电平，k≠i；

若是，则第k条列导线与第i条行导线的交点上的按键被按下。

本发明的有益效果是，提供一种多按键检测系统及其方法，节约了印制电路板和整机的空间，降低了系统成本。

以下结合具体实施方式和附图，对本发明作进一步说明。

附图说明

图1是4×4矩阵按键扫描电路图。

图2是本发明实施方式的电路图。

图3是分发明实施方式流程图。

图4是本发明实施例1的电路图

具体实施方式