[发明专利]数显测量装置有效
申请号: | 200710049810.6 | 申请日: | 2007-08-10 |
公开(公告)号: | CN101122455A | 公开(公告)日: | 2008-02-13 |
发明(设计)人: | 赵志强 | 申请(专利权)人: | 赵志强 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02;G01B3/20;G01D5/12 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 马兰 |
地址: | 541004广西壮族自治区桂林市*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 | ||
1、全密封数显卡尺,包括尺身(1)和尺框(3)以及于尺身(1)和尺框(3)之间的大数测量装置和小数测量装置,其特征在于:
①、大数测量装置,包括均匀固化于尺身(1)上具有不同深度的凹槽(2)或孔位、与凹槽(2)或孔位配合的活动卡销(6)和在凹槽(2)或孔位深度方向上相互偶合的一套电容传感器及其电路,电容传感器的大数测量定栅(4)固定在尺框(3)内,电容传感器的大数测量动栅(5)在尺框内与活动卡销(6)固连;
②、小数测量装置,包括弹性外伸于尺框(3)且平行于尺身(1)的测杆(8)、在尺身(1)方向上相互偶合的另一套电容传感器及其电路,与尺框(3)分离的尺框卡爪(9)与测杆(8)的外伸端头固连,电容传感器的小数测量定栅(10)固定在尺框(3)内,电容传感器的小数测量动栅(11)在尺框(3)内与测杆(8)固定连接;
③、还包括一个将大数测量装置的测量值和小数测量装置的测量值计算得出总测量结果的计算装置;
④、在尺框(3)与尺身(1)之间设有套装于活动卡销(6)上的密封套(14),尺框(3)外的测杆(8)上套装有防尘套(15);
⑤、所述大数测量定栅(4)、动栅(5)的1/2节距大于或等于凹槽(2)的最大深度,所述小数测量定栅(10)、动栅(11)的1/2节距大于或等于相邻两凹槽(2)或孔位之间的距离。
2、根据权利要求1所述的全密封数显卡尺,其特征在于:所述凹槽或孔位的间隔距离为10mm。
3、根据权利要求2所述的全密封数显卡尺,其特征在于:尺框(3)上还设有将活动卡销(6)与凹槽(2)或孔位分离的按扭(7)。
4、根据权利要求3所述的全密封数显卡尺,其特征在于:尺框(3)内安设有水平移动的小数测量拉杆(12),小数测量拉杆(12)的一端外伸于尺框(3)与尺框卡爪(9)连接,其另一端与尺框(3)上的小数测量拉手(13)连接。
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