[发明专利]HAuCl4分光光度法检测痕量金纳米粒子无效

专利信息
申请号: 200710049972.X 申请日: 2007-09-04
公开(公告)号: CN101201318A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 蒋治良;张声森 申请(专利权)人: 广西师范大学
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33
代理公司: 桂林市华杰专利事务所有限责任公司 代理人: 罗玉荣
地址: 541004广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: haucl sub 分光光度法 检测 痕量 纳米 粒子
【权利要求书】:

1.HAuCl4分光光度法检测痕量金纳米粒子的方法,其特征是:检测方法包括步骤如下:

①在柠檬酸钠-盐酸缓冲溶液中,加入金纳米粒子、HAuCl4和NH2OH·HCl于刻度试管,然后定容;

②将试管置于温水浴中反应;

③上述反应完成后,取适量所得溶液于石英池中,置于双光束紫外可见分光光度计上,测出296nm处的吸光度,绘制标准工作曲线,根据工作曲线,可求得纳米金的浓度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征是:步骤1所述的刻度试管为5.0mL的刻度试管,加入的柠檬酸钠-盐酸缓冲溶液pH为2.27~2.97,用量为0.2~0.4mL,加入的金纳米粒子粒径为5~50nm,HAuCl4浓度为0.59mmol/L,用量为0.3~1.0mL,NH2OH·HCl浓度为8.0mmol/L,用量为0.2~0.8mL,定容体积为2.0mL。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征是:步骤2所述的恒温水浴温度为28~34℃,反应时间为4~8min。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征是:步骤3所述的吸光度测量波长为296nm。

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