[发明专利]LED阵列微显示器件及制作方法无效
申请号: | 200710055789.0 | 申请日: | 2007-06-20 |
公开(公告)号: | CN101090128A | 公开(公告)日: | 2007-12-19 |
发明(设计)人: | 梁静秋;王波;王维彪;梁中翥;朱万彬 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L21/82 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人: | 赵炳仁 |
地址: | 130031吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | led 阵列 显示 器件 制作方法 | ||
技术领域:
本发明属于发光显示技术领域,涉及一种微型显示器件,具体地说是一种高亮度AlGaInP-LED微显示器件及制作方法。
背景技术:
近年来,随着电子产业的发展,微显示器件发展迅速。通常的微型显示系统是基于液晶显示器(LCD)或有机发光二极管(OLED)技术。但液晶显示通常需要一个外部照明光源,使得结构复杂;有机发光二极管(OLED)受驱动电流限制不能得到较高的输出光强,而且寿命较低。
发明内容:
本发明的目的是提供一种AlGaInP-LED微显示器件及制作方法。
本发明所述的微显示器件的结构如图1~5所示,包括:上电极1、透光层4、发光层5、反射层6、基片7、下电极9、上保护层10、光阑11。
反射层6的上面依次为发光层5、透光层4,反射层6的下面是基片7。在透光层4上有上电极1,上电极1为条形,每个条形上电极1互相平行。在发光层5和透光层4上开有纵向、横向交错的上隔离沟槽2,上隔离沟槽2将发光层5和透光层4分割成纵向和横向排列的长方形或正方形。在上隔离沟槽2内有光阑11,光阑11与上电极1将每个纵向和横向排列的长方形或正方形透光层4又分割成两个长方形或正方形透光区3,这些透光区3也是纵向和横向排列,构成二维阵列。在透光区3、上电极1、光阑11上覆盖有上保护层10。
在反射层6下面的基片7上开有下隔离沟槽8,下隔离沟槽8将基片7分割成平行排列的条状结构,在每个条状结构的基片7上是下电极9。下电极9与上电极1在方向上异面垂直。
本发明AlGaInP-LED微显示器件的工作过程是,电流从上电极1注入,从下电极9流出,在器件中形成电场,使得正负载流子在发光层复合发光。其中部分光向上穿过透光层4,从透光区3、保护层10射出;部分光向下到达反射层6,被反射层6反射,穿过发光层5、透光层4,从透光区3射出。由于该发光器件的发光原理为p-n结内的载流子复合发光,具有二极管电流电压的非线性特性,发光亮度也随注入电流的大小具有非线性特性。本发明通过电路控制相素元的亮暗,实现发光显示。
本发明所述的高亮度微显示器件通过一系列工艺步骤制作。
一、在发光层和基片上制备金属薄膜
(A).本发明使用的基质材料为发光芯片,所用的发光芯片由透光层4、发光层5、反射层6和基片7构成,如图6(a)所示,反射层6的上面依次为发光层5、透光层4,反射层6的下面是基片7。通过蒸发或溅射技术,在发光芯片的透光层4和基片7上各制备一层金属薄膜,如图6(b)所示。
(B).在基片7的金属薄膜表面甩一层胶作保护层,以保护该金属薄膜不受损伤。
二、形成上隔离沟槽和制备上电极
(C).在透光层4表面的金属膜上涂一层光刻胶,根据胶的性质及厚度选择合适的光刻条件,光刻形成上隔离沟槽的光刻胶图形。
(D).使用相应的金属腐蚀液将未被保护的金属薄膜腐蚀掉,露出透光层4,如图6(c)。
(E).根据透光层材料选择相应腐蚀液腐蚀透光层4,将未被保护的部分腐蚀掉直至发光层5,如图6(d)。
(F).根据发光层材料选择相应腐蚀液腐蚀发光层5,将未被保护的部分腐蚀掉,露出反射层6。至此已完成上隔离沟槽2的制作,如图6(e)。
(G).将透光层4表面上的光刻胶去除,然后在上面再次甩胶,用上电极1的光刻版进行光刻。将未被光刻胶保护的金属薄膜腐蚀掉,最后去除光刻胶,所留下的金属薄膜即为上电极1,如图6(f)。
三、制备光阑
(H).选一种不透明的光刻胶做光阑材料,将其涂在上表面,使其填充于上隔离沟槽2并覆盖透光区3和上电极1,用光阑的光刻版进行光刻,完成光阑11的结构制作,如图6(g)。
在上表面制作保护层10,保护上电极1和光阑11等结构;
四、下隔离沟槽制作
(I).去除基片7的金属薄膜下表面的保护层,在金属薄膜表面甩光刻胶后,用下隔离沟槽8的光刻版进行光刻,用相应的腐蚀液将未被光刻胶保护的基片上的金属薄膜腐蚀掉,如图6(h)。
(J).根据基片材料选择相应腐蚀液腐蚀基片,将未被保护的部分腐蚀至反射层6,形成下隔离沟槽8,如图6(i)。
五、下电极制备
(K).去除基片7的金属薄膜下表面的光刻胶,在下表面再次甩胶并用下电极光刻版进行光刻,用腐蚀液腐蚀未被胶保护的金属膜,制作出下电极9,如图6(j)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710055789.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电容阵列、电容与电容阵列布局方法
- 下一篇:具有扬声器护栅的显示装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的