[发明专利]一种在密封品检漏中绘制压差与泄漏量关系曲线的方法

说明书

(一)技术领域

本发明涉及一种密封品的检漏方法，特别是一种在密封品检漏中绘制压差与泄漏量关系曲线的方法。

(二)背景技术

目前密封品检漏装置使用的方法主要有：染料渗透检漏法、升温气泡发射检漏法、重量增加检漏法、放射性同位素检漏法以及光学检漏法等。这些方法工艺复杂、效率低、成本高，其中有的方法还属于破坏性检验方式。另外还有一种差压式气密检漏法，主要用于非密封品如汽车油箱、空调管路等的泄漏检测，但是不能用于密封品如电子芯片等的检漏。我们已经研制了差压式密封品检漏装置，但是用差压式密封品检漏装置进行检测时，首先需要绘制压差与泄漏量关系曲线，作为判定密封品是否合格的依据。现在绘制压差与泄漏量对应关系曲线图主要是采用理论计算法，即根据差压检漏的基本公式，结合密封品差压检漏的相关条件，推导出压差的时变计算公式以及小漏率检测、大漏率检测的计算公式，再将被测件的内容积、被测件密封容器的剩余容积、测试管路的容积、测试压力等各个参数分别代入公式，通过计算得到相关数据即可绘制出压差与泄漏量对应关系曲线图。由于计算时涉及参数较多，计算步骤非常复杂，且选择的各种参数与实际数据存在比较大的误差，所以使用理论计算法绘制曲线准确率低，使用效果不理想。

(三)发明内容

本发明的目的是针对上述存在的问题，提供一种原理科学、不需要复杂计算、检测准确、操作简单、易于实施的在密封品检漏中绘制压差与泄漏量关系曲线的方法。

本发明的技术方案：

一种在密封品检漏中绘制压差与泄漏量关系曲线的方法，使用容积校正器在密封品检漏装置上进行，其实施步骤如下：

1)在差压式密封品检漏装置中，在放置被测件的密封容器上接入容积校正器，将两个已知不漏的被测件分别放入被测件密封容器和基准件密封容器内，按照被测件的允许漏率和测试压力，计算出容积校正器的容积变化量ΔV；

2)在差压式密封品检漏装置中，对被测件密封容器和基准件密封容器进行充压或抽真空，并达到规定的测试压力；

3)用容积校正器调整相应容积变化量为ΔV，记录此时该检漏装置差压传感器产生的压差ΔP_R；

4)将差压式密封品检漏装置放气，还原容积校正器到初始位置；

5)利用差压式密封品检漏装置进行小漏率检测：根据所需检测范围由小到大设置至少5个检测点，重复2)～4)操作，用容积校正器调整不同的容积变化量ΔV，通过差压式密封品检漏装置测出对应不同ΔV下压差ΔP_R的具体数值，完成压差ΔP_R与泄漏量关系曲线图中的小漏率检测曲线的绘制；

6)利用差压式密封品检漏装置进行大漏率检测：根据所需检测范围由小到大设置至少5个检测点，重复2)～4)操作，用容积校正器调整不同的容积变化量ΔV，通过差压式密封品检漏装置测出不同ΔV下压差ΔP_R的具体数值，完成压差ΔP_R与泄漏量关系曲线图中的大漏率检测曲线的绘制。

本发明的工作原理：使用差压式密封品检漏装置对密封品检漏，当密封品不漏时，检漏装置的差压传感器不会产生压差ΔP。如果在此状态下，改变被测件密封容器的容积V，造成一个容积变化量ΔV，则会引起容器内的压力下降或上升，差压传感器产生压差ΔP_R，其效果相当于有ΔV×ΔP_R的气体量漏进或漏出密封容器。当有泄漏的密封品在检漏时，如果每秒泄漏的气体量与ΔV×ΔP_R的气体量相等，那么密封品检漏时所产生的压差ΔP与改变密封容器的容积而产生的压差ΔP_R将是相同的。因此可以使用调整密封容器容积的方法，模拟不同的漏率，在差压式密封品检漏装置上获得对应的压差ΔP_R，根据这些模拟漏率与压差ΔP_R的对应关系，便可以做出被测件的压差与泄漏量关系曲线图。为此我们使用一个可以调整已知容积的变化量、使差压式密封品检漏装置产生不同压差ΔP_R的装置，即容积校正器。容积校正器产生的容积变化ΔV与泄漏气体量的换算可按下列公式进行：

气体泄漏量＝(P+P₀)×ΔV

式中：P测试压力(Pa)，

P₀大气压力(Pa)。

例如某个被测件的允许漏率为1×10^-4Pa·m³/s，测试压力为2×10⁵Pa。代入上述公式