[发明专利]一种半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置无效

专利信息
申请号: 200710064855.0 申请日: 2007-03-28
公开(公告)号: CN101275805A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 刘茂哲;景玉鹏;陈大鹏;欧毅;叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: F26B5/06 分类号: F26B5/06;B81C1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 制冷 二氧化碳 临界 干燥 装置
【权利要求书】:

1. 一种半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,该装置包括:

超临界干燥室,用于牺牲层的释放,由高压反应室(4)和温度控制室(5)组成;高压反应室(4)用于盛放硅片支架,提供二氧化碳置换和气化干燥的反应室,与二氧化碳气瓶相连,且高压反应室(4)的外壁上安装有半导体制冷环(201);温度控制室(5)通过蒸发器盘管与高压反应室(4)相连,实现高压反应室(4)的制冷和加热;

分离减压室(6),通过管道与高压反应室(4)相连,用于减压后将醇类和二氧化碳分离;

所述超临界干燥室与分离减压室(6)通过支座台(2)固定连接。

2. 根据权利要求1所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,所述高压反应室(4)顶部安装有高压盖(1),用于密封高压室。

3. 根据权利要求2所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,所述高压盖(1)由不锈钢材料制成,其直径为180mm,高为20mm。

4. 根据权利要求1所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,所述高压反应室底部安装有进口电磁阀(401),出口电磁阀(402),温度传感器(11),压力传感器(10);其中,进口电磁阀(401)和出口电磁阀(402)用于控制二氧化碳气体的进出;温度传感器(11)用于测试和控制高压反应室(4)内的温度;压力传感器(10)用于测试和控制高压反应室(4)内的压力。

5. 根据权利要求1或4所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,所述高压反应室为不锈钢材料制成的圆柱体,其直径为135mm,高为82mm。

6. 根据权利要求1所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,

所述硅片支架置于高压反应室(4)内部,加热电阻丝直接绕贴在高压反应室(4)的底部;

所述半导体制冷环焊接在高压反应室(4)的外壁,其内径为135mm。

7. 根据权利要求1所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,所述分离减压室(6)接有进气管和减压排气管(8),进气管用于连接高压反应室(4)与分离减压室;减压排气管(8)用于排除残余液体和气体。

8. 根据权利要求1或7所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,所述分离减压室为不锈钢材料制成的圆柱体,其直径为135mm,高为200mm。

9. 根据权利要求1所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,所述硅片支架为直径120mm,厚度2mm的铝合金圆柱。

10. 根据权利要求1所述的半导体制冷的二氧化碳超临界干燥装置,其特征在于,该装置由继电器温度压力传感器及阀门控制自动运行,并设置安全自锁机能。

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