[发明专利]多参数免疫层析试条定量检测仪无效

专利信息
申请号: 200710065332.8 申请日: 2007-04-11
公开(公告)号: CN101285762A 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 刘军涛;蔡新霞;郭宗慧;刘春秀;岳伟伟;周爱玉 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/84;G01N33/558
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 参数 免疫 层析 定量 检测
【权利要求书】:

1、 一种多参数免疫层析试条定量检测仪,其基于光反射原理,包括一个信号采集处理模块、一个控制及运算模块,两模块置于壳体内;

信号采集处理模块,包括信号预处理模块、高速A/D转换模块、第一存储模块及控制模块;其中,信号预处理模块、高速A/D转换模块、第一存储模块顺序电连接,控制模块的输出端分别与高速A/D转换模块、第一存储模块电连接;

控制及运算模块,包括单片机、第二存储模块、显示模块、键盘输入模块、通讯模块;其中,第二存储模块、显示模块、键盘输入模块、通讯模块分别与单片机相连,通讯模块的输出端与壳体外的计算机电连接;

信号采集处理模块的第一存储模块输出端与单片机输入端电连接;其特征在于,还包括:

一个光电检测模块,包括光源部分,光路部分,试条加载架和CCD检测部分;

其中,光路部分为一容体,内设光纤,光纤的入射端位于光路部分的上侧面,然后分为至少两根发送光纤连接于光路部分的下侧面,分别与下侧面上的至少两个光纤探头相接后,折向侧上方,分为至少两根反射光纤分别与第三侧面上的至少两个射出端相连;

光源部分位于光路部分的正上方,光源部分的光源与光纤的入射端正对,光路部分位于试条加载架的正上方,试条加载架凹槽内的试条上表面与光路部分的底面邻接,光路部分下侧面上的至少两个光纤探头,与试条上的至少一个检测线和一质控线相对;

光路部分容体外的CCD检测部分,包括透镜、CCD传感器,透镜、CCD传感器在同一方向上顺序排列,邻近光路部分第三侧面,透镜正对第三侧面上反射光纤的两个射出端;CCD传感器受控制模块控制,与信号预处理模块通讯;

各部件通过电源电路供电。

2、 如权利要求1所述的多参数免疫层析试条定量检测仪,其特征在于,还包括:一个温度补偿模块,包括温度传感器及其数模转换电路;其中,温度传感器设于壳体上,经A/D转换模块与单片机相连。

3、 如权利要求1所述的多参数免疫层析试条定量检测仪,其特征在于,所述光源,为发光二极管,波长为520~540nm。

4、 如权利要求1所述的多参数免疫层析试条定量检测仪,其特征在于,所述控制模块,采用FPGA或CPLD作为控制器件,控制模块向CCD传感器提供控制信号,保证CCD传感器正常工作;预处理模块,对CCD传感器输出信号进行预处理,并保护CCD传感器。

5、 如权利要求1所述的多参数免疫层析试条定量检测仪,其特征在于,所述单片机中固装有操作软件,软件中设有参数设置项,针对需检测的免疫层析试条,设置相关参数,通过键盘输入模块选择、确定参数及上下限,从而实现对不同参数的测量,实现对多联免疫层析试条的定量检测。

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