[发明专利]一种ZnO基发光二极管及其制备方法有效
申请号: | 200710070016.X | 申请日: | 2007-07-13 |
公开(公告)号: | CN101097979A | 公开(公告)日: | 2008-01-02 |
发明(设计)人: | 叶志镇;曾昱嘉;卢洋藩;徐伟中 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 zno 发光二极管 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及ZnO基发光二极管及其制备方法。
背景技术
ZnO由于其室温下3.37eV的直接带宽和60meV的激子束缚能,被认为是一种理想的短波长发光器件材料。制备性能可控的n型和p型ZnO导电晶体薄膜是实现ZnO基光电器件应用的关键。目前,人们对于n型ZnO晶体薄膜的研究已经比较成熟,已经能够实现具有优异性能的n型ZnO晶体薄膜的实时掺杂生长。然而,ZnO的p型掺杂却遇到诸多困难,这主要是由于受主元素在ZnO中的固溶度很低,受主能级一般很深,而且ZnO本身存在着诸多本征施主缺陷,对受主会产生高度的自补偿效应。氮作为一种研究最为广泛的受主元素,同样面临上述的掺杂困难。目前,ZnO中的氮掺杂广泛采用等离子体辅助生长方法,通过提高氮源的反应能力以提高氮的固溶度。然而,等离子体辅助生长技术一般成本较高,设备维护较困难,生长条件不易控制。并且所生长的p型ZnO薄膜的性能仍有待提高。因此,如何实现可控,高效的p型掺杂已成为目前制备ZnO基发光二极管中关键而又亟待解决的一项技术。
发明内容
本发明的目的是提供一种p型掺杂可控、成本低,利于提高器件性能的ZnO基发光二极管及其制备方法。
本发明的ZnO基发光二极管是以ZnO为基,在衬底的一面自下而上依次沉积有n-ZnO薄膜层、n-Zn1-xMgxO薄膜层、0<x<0.6,ZnO量子阱层、p-Zn1-xMgxO薄膜层、0<x<0.6,p-ZnO薄膜层和第二电极,在衬底的另一面沉积有第一电极,其中ZnO量子阱层由z个周期的ZnO/Zn1-yMgyO量子阱层构成,0<y<0.5,z值为5~10。
上述的衬底可以是硅、氧化锌或氮化镓。第一电极为Ti/Au合金,第二电极为Ni/Au合金。
本发明的ZnO基发光二极管的制备方法,步骤如下:
将衬底表面清洗后放入金属有机物化学气相沉积系统的生长室中,生长室抽真空至10-4Pa,加热衬底至300~600℃,通入有机锌源、氧气,生长压强为50Torr,在衬底上沉积n-ZnO薄膜层;通入有机锌源、有机镁源、氧气,生长压强为50Torr,在n-ZnO薄膜层上沉积n-Zn1-xMgxO薄膜层、0<x<0.6;交替通入有机锌源、氧气以及有机锌源、有机镁源、氧气,生长压强为50Torr,沉积ZnO层和Zn1-y MgyO层,0<y<0.5,以形成5~10个周期的ZnO量子阱层;然后通入有机锌源、有机镁源、氧气、一氧化氮,NO/O2的摩尔比为0.3~0.7,生长压强为30Pa,在ZnO量子阱层上生长p-Zn1-xMgxO薄膜层、0<x<0.6;接着通入有机锌源、氧气、一氧化氮,NO/O2的摩尔比为0.3~0.7,生长压强为20Pa,生长p-ZnO薄膜层;最后采用电子束蒸发法在p-ZnO薄膜层上沉积第二电极,在衬底的另一面沉积第一电极。
制备过程中,沉积n-ZnO薄膜层和n-Zn1-x MgxO薄膜层,可以用Ga或Al源作为n型掺杂剂。
本发明的有益效果在于:
1)本发明生长成本低,生长条件易控,有利于产业化生产;
2)采用O2/NO混合气体的非等离子体辅助氮掺杂生长p-ZnO和p-Zn1-xMgxO薄膜,通过优化NO/O2比例可以提高氮掺杂浓度,有利于提高器件性能,并且有效提高可重复性;
3)量子阱作为有源层,利于提高发光效率;
4)ZnO同质结结构,界面晶格匹配性好,有利于提高器件的性能。
附图说明
图1是本发明ZnO基发光二极管的结构示意图。
具体实施方式
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