[发明专利]静电耗散陶瓷材料及其制备方法无效
申请号: | 200710071983.8 | 申请日: | 2007-04-03 |
公开(公告)号: | CN101279845A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 胡忠辉;李新江;刘永涛 | 申请(专利权)人: | 胡忠辉 |
主分类号: | C04B35/48 | 分类号: | C04B35/48;C04B35/10;C04B35/64;H01B1/18 |
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地址: | 150001黑龙江*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 耗散 陶瓷材料 及其 制备 方法 | ||
1. 一种静电耗散陶瓷材料,其组成成份包括:
A、氧化锆含量70~90%重量百分比,碳化钛含量10~30%重量百分比;
B、氧化铝含量70~90%重量百分比,碳化钛含量10~30%重量百分比;
C、氧化锆含量20~60%重量百分比,氧化铝含量20~60%重量百分比;碳化钛含量10~30%重量百分比。
2. 如权利要求1所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,表面电阻率为
3. 如权利要求1所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,体积电阻为104~109Ω·cm。
4. 如权利要求1所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,氧化锆的粒度为约0.05~5微米,氧化铝粒度为约0.05~5微米,碳化钛粒度为约0.5~5微米。
5. 如权利要求1所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,释放静电时所产生的最大静电流不大于3mA。
6. 如权利要求1所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,烧结体具有大于约95%理论密度的密度。
7. 如权利要求1所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,在材料中添加少量的氧化物导体或半导体,如SnO2、ZnO等。
8. 如权利要求1所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,材料的静电压小于10伏。
9. 如权利要求7所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,具有权利要求2、3、4、5、6和8所具有的材料性能和技术特征。
10. 如权利要求1和权利要求7所述的静电耗散陶瓷,其特征在于,材料的烧成温度为1550℃~1750℃,烧结气氛为真空烧结或氩气气氛保护烧结。
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