[发明专利]AFM探针纳米压痕实现高密度信息存储的方法无效
申请号: | 200710072530.7 | 申请日: | 2007-07-20 |
公开(公告)号: | CN101136227A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | 王铀;洪晓东;曾俊 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G11B9/14 | 分类号: | G11B9/14;C08J5/18;C08L25/06 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人: | 牟永林 |
地址: | 150001黑龙江*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | afm 探针 纳米 压痕 实现 高密度 信息 存储 方法 | ||
1.AFM探针纳米压痕实现高密度信息存储的方法,其特征在于它通过下述步骤实现:一、制得苯乙烯-乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物薄膜,并使该薄膜的相分离形态为球形结构;二、利用AFM扫描探针敲击薄膜表面形成纳米压痕,以实现高密度信息存储中的“写入”过程;三、对该薄膜进行加热处理,薄膜表面的纳米压痕回复,实现存储信息的“擦除”。
2.根据权利要求1所述的AFM探针纳米压痕实现高密度信息存储的方法,其特征在于第一步骤中薄膜材料的制备采用下述步骤实现:利用苯乙烯-乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物溶于二甲苯溶剂配成均一溶液;吸取一滴上述溶液滴在新劈开的云母片表面成膜,膜厚度为25nm,采用该膜作为样品,以环己烷为溶剂,室温下在密闭容器中进行熏蒸处理,当样品在环己烷溶剂熏蒸48至52小时,样品表面的相分离形态为均匀球状形态,制备完成。
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