[发明专利]一种采用磁控溅射制备薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200710072595.1 申请日: 2007-08-02
公开(公告)号: CN101100739A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 朱嘉琦;姜春竹;韩潇;梁军 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/54
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 代理人: 吴国清
地址: 150001黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 采用 磁控溅射 制备 薄膜 方法
【权利要求书】:

1、一种采用磁控溅射沉积制备薄膜的方法,其特征在于该方法的步骤如下:

步骤一、选用需镀膜材料作为靶材,并将衬底置于旋转加热台上,该加热台位于真空仓内;

步骤二、将真空仓密封,通过真空获得系统,将真空仓内抽成真空,当真空仓内真空度达到9.9×10-4~1.0×10-4帕时,通入Ar气,当真空仓内压强为3~5帕时,启动电离电源,对衬底表面进行电离清洗,电离清洗3~5分钟;

步骤三、电离清洗结束后,启动加热灯组,加热到沉积薄膜所需要的温度,加热至25~750℃,并且保温10分钟~1小时;

步骤四、向真空仓内通入启辉气体,当真空仓内气体压强在3~5帕时启辉,施加溅射功率,溅射功率为50~400瓦,进行预溅射3~10分钟,气体流量控制在10sccm~90sccm,真空仓内气体压强降至0.1~2帕,在衬底上加0~600伏的负偏压,移开挡板;

步骤五、采用步进电机来连续控制旋转加热台的转速,转速控制在15转/分钟内变化,同时用另一步进电机来控制加热台上方靶的运行轨迹,靶沿着加热台圆心向外圆以步长为2~5mm的间歇运动来控制向衬底表面镀膜;

步骤六、步骤五完成后,关闭电源,待真空仓内温度降至室温时即制得本发明的薄膜。

2、根据权利要求1所述的一种采用磁控溅射沉积制备薄膜的方法,其特征在于制备直径为300mm、厚度为168nm的圆形平面薄膜,步骤二当真空仓内压强为7.5×10-4帕时,通入Ar气,当真空仓内压强为3帕时,电离清洗5分钟;  步骤三加热到200℃保温30分钟;步骤四流量设为60sccm,同时关小闸板阀,待真空室气压为3帕时,打开射频电源启辉,溅射功率为80瓦,预溅射5分钟后,调节真空室压强为0.7帕,设定靶的镀膜控制参数2.0,2.0,2.1,2.4,2.8,2.9来控制加热台的转数与靶的位置后,在衬底上加300伏的负偏压,移开挡板;步骤五开始镀膜,镀膜时间为46分29秒后,关闭所有电源,待真空室恢复到室温后,打开真空仓,制得本发明的薄膜。

3、根据权利要求1所述的一种采用磁控溅射沉积制备薄膜的方法,其特征在于制备直径为300mm、厚度为121nm圆形平面和薄膜,步骤二当真空仓内压强为1.5×10-4帕时,通入Ar气,当真空仓内压强为4帕时,电离清洗4分钟;步骤三加热到50℃保温50分钟;步骤四流量设为20sccm,同时关小闸板阀,待真空室气压为4帕时,打开射频电源启辉,溅射功率为200瓦,预溅射4分钟后,调节真空室压强为0.5帕,设定靶的镀膜控制参数1.0,1.0,1.1,1.4,1.45来控制加热台的转数与靶的位置后,在衬底上加50伏的负偏压,移开挡板;步骤五开始镀膜,镀膜时间为18分46秒后,关闭所有电源,待真空室恢复到室温后,打开真空仓,制得本发明的薄膜。

4、根据权利要求1所述的一种采用磁控溅射沉积制备薄膜的方法,其特征在于制备直径为160mm、厚度为122nm薄的圆形平面薄膜,步骤二当真空仓内压强为8.5×10-4帕时,通入Ar气,当真空仓内压强为5帕时,电离清洗3分钟;步骤三加热到700℃保温20分钟;步骤四流量设为80sccm,同时关小闸板阀,待真空室气压为1帕时,打开射频电源启辉,溅射功率为80瓦,预溅射5分钟后,调节真空室压强为1帕,设定靶的镀膜控制参数1.33,1.2,1.4,1.6,1.87,0控制加热台的转数与靶的位置后,在衬底上加450伏的负偏压,移开挡板;步骤五开始镀膜,镀膜时间为10分15秒后,关闭所有电源,待真空室恢复到室温后,打开真空仓,制得本发明的薄膜。

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