[发明专利]测量设备及其测量方法无效

专利信息
申请号: 200710073074.8 申请日: 2007-02-02
公开(公告)号: CN101236059A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 李雷;陈平;赵云芳;李冬;陈志礼;蒋军 申请(专利权)人: 深圳富泰宏精密工业有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/02;G01B5/06;G01B3/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测量 设备 及其 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种测量设备及其测量方法,特别是关于一种测量工件几何参量的测量设备及其测量方法。

背景技术

工业生产中,为判断工件是否符合尺寸标准,常常需要对工件进行几何参量的测量。目前,在该领域主要采用三次元测量技术对精密工件进行测量。现有的三次元测量仪器体积较为庞大,结构复杂,移动不便,只适合在实验室中对少数工件样本进行测量,不能满足在生产线上进行大规模测量的要求。

另外,为达到精确测量,可单独使用千分尺对工件进行测量,并由检测人员读数并手工记录。该千分尺虽然体积较小,结构简单,易于操作,但这样测量不仅效率低,容易造成读数错误。更重要的是,需用检测人员判断工件是否符合标准,增加了检测人员的作业强度。

发明内容

鉴于以上缺点,有必要提供一种体积小,可直接显示工件几何参量及工件是否通过测量的测量设备。

另外,有必要提供一种操作简便快捷的量测方法。

一种用以测量工件几何参量的测量设备,其包括一测量仪器及一数据处理装置,该测量仪器包括一基座、一导柱、一滑块及一千分尺,该导柱垂直固定在基座上,该滑块可移动的设置于所述导柱上,并固定所述千分尺;该数据处理装置与该测量仪器相连,该数据处理装置用以分析由测量仪器测得的测量值,并显示测量结果。

一种量测方法,该方法包括以下步骤:

对测量仪器进行校零操作,

对数据处理装置进行测量参数设定,

用所述测量仪器测量工件的几何参量,从而得到若干测量值,

该数据处理装置分析由测量仪器测得的测量值,判断所述工件几何参量是否符合预定要求。

与现有技术相比,本发明提供一带有数据处理装置的测量设备,其可直接显示工件几何参量及测量结果。另外,应用千分尺对工件进行测量,使得该数据处理装置体积小,并可显示工件的测量值,读数精确。该测量方法简单、快捷,易于操作。

附图说明

图1为本发明测量设备的较佳实施例的立体示意图;

图2为本发明测量设备的较佳实施例的测量仪器的立体示意图;

图3为本发明测量设备的较佳实施例中数据处理装置的功能模块图。

具体实施方式

请参阅图1,本发明测量设备80的较佳实施例包括一测量仪器10及一与该测量仪器10相互连接的数据处理装置20,该测量设备80可用于对工件的高度、宽度及厚度等几何参量进行测量并显示该工件是否符合标准。

请参阅图2,该测量仪器10包括一基座14、一导柱16、一滑块18及一千分尺12。该基座14为一大致呈矩形的金属板,其上表面具有很高的平面度。在该上表面临近边缘处开有一通孔(图未示)。该导柱16为一金属棒,其横截面与所述通孔大小相当,该导柱16可卡固在该通孔中并与该基座14相垂直。该滑块18包括一滑动部182及一夹持部184,所述滑动部182大致呈长方体,其上开设有通孔(图未示),滑块18通过该通孔套设在导柱16上,并通过一螺钉将该滑块18可移动的连接在该导柱16上。夹持部184大致呈长方体,其由滑动部182的一侧向外延伸,该夹持部184表面开设有一矩形槽(图未示)。该千分尺12在本发明中的较佳实施例为一数显千分尺,其包括一主体122及一表盘124。该主体122包括一测量螺杆1222及一棘轮1224,旋转该棘轮1224可使该测量螺杆1222上下移动。该表盘124固定在该主体122的周缘。该表盘124的表面设有一数字显示屏1242;在表盘124上另设有一复零按钮1244,用于该千分尺12的校零操作;在该表盘124的一侧壁上开有一数据输出接口1246,用于与数据处理装置20连接输出测量值;在该表盘124的另一侧壁延伸出一装夹部(图未示),用于与夹持部184的矩形槽相配合,使该千分尺12固定在所述滑块18上。

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