[发明专利]一种用于瑕疵闪存动态补偿方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及闪存存储领域，尤指一种瑕疵闪存动态补偿方法及装置。

背景技术

闪存：闪存是Flash Ram的音译。闪存作为一种非挥发性(简单说就是在不加电的情况下数据也不会丢失，区别于目前常用的计算机内存)的半导体存储芯片，具有体积小、功耗低、不易受物理破坏的优点，是移动数码产品的理想存储介质，目前，其普遍应用在数码电视、数码便携式摄像机、移动电话、数码相机、掌上电脑(PDA)、游戏机、MP3播放器等设备中，闪存的种类大致分为：储存容量大的数据存储型(NAND)和处理速度快的代码存储型(NOR)两种。

闪存的结构特点，其是由很多个块(block)组成，每个块(block)包括64页(page)，每一个页(page)包括4个扇区(sector)。

闪存的写入操作必须在空白区域进行，如果目标区域已经有数据，必须先擦除后写入，因此当对闪存进行读写的次数多了，一个块中就可能出现坏扇区。为了防止由于将数据写到坏扇区，而造成数据的丢失，通常采用的方法为：在使用闪存前，对闪存先进行初始化扫描，只要一个块中出现一个坏扇区，即将整个块标记为坏块，然后将数据存储到好块中，该方法通过防止将数据写到坏扇区来实现数据的安全存储。

但是，即使这样，也还是会有一些坏块，如果在使用时发现坏块的话，会影响闪存的使用。

发明内容

本发明的目的在于提供了一种瑕疵闪存的动态补偿方法，其可克服现有闪存的缺陷，对存在坏块的闪存进行动态补偿，确保数据安全。

为了实现上述发明的目的，本发明所采用的技术方案为：

一种用于瑕疵闪存的动态补偿办法，包括以下步骤：

将闪存中预留一组好块设置为替换块；

扫描闪存；

利用替换块中的块替换坏块。

所述的用于瑕疵闪存的动态补偿办法，其还包括以下步骤：将被替换的坏块放在该组好块后面。

一种用于瑕疵闪存的动态补偿装置，其包括：

设置单元，将闪存中预留一组好块设置为替换块；

扫描单元，用于扫描闪存；

替换单元，利用替换块中的好块，替换扫描出来的坏块。

所述的替换单元，其将替换出来的块坏放在该组好块后面。

由以上本发明提供的技术方案可见，本发明利用替换块的方法进行动态补偿，可以减少闪存出错的机率，更好的使用闪存。

附图说明

图1为本发明方法的流程图；

图2为本发明装置的结构示意图。

具体实施方式

本发明提供一种用于瑕疵闪存动态补偿方法，包括步骤：将闪存中预留一组好块作为替换块；通过扫描，若发现有坏块，则将该组好块中的一块把坏块替换；将被替换的坏块放在该组好块后面。

在该动态补偿方法中，其主要是在在闪存被分类后，本领域的技术人员都知道，闪存的坏块虽然被屏蔽掉，但是，性能的不稳定性，在使用过程中，还是会出现坏块，如果能在使用过程中，重新扫描闪存，如果发现坏块，再利用闪存中预留的替换块来替换坏块，以此可以更好地利用闪存。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和实施方式对本发明作进一步的详细说明。

图1出示了本发明的流程图，如图所示，包括：

步骤101：首先在闪存中预留一组好块，将其定义为替换块。

步骤102：通过EDC(误码检测单元)及ECC(纠错单元)对闪存进行扫描，然后将信息反馈回来，将两种信息进行对比，即可发现其中是否有坏块；

步骤103：如果有，则用该组好块中的一个替换该坏块。

步骤104：被替换后的坏块，其可放置在该组好块后面。

若不断发现有坏块，当所有的好块替换完后，再将第一次被替换的坏块当作好块去替换，以此类推。

采用这种方法，因为该闪存芯片已被精确分过类，因此其坏块数并不会很多，只是为了应付突然发现在的坏块数，并且，因为闪存本来的性能不稳定，有时其发现的坏块并不是真正的坏块，只是在扫描时认为的坏块，所以将坏块放在替换块后面，当下次有坏块时，就可以当作好块使用。

本发明还提供了一种闪存数据存储装置，如图4所示，该用于瑕疵闪存的动态补偿装置包括：

设置单元201，将闪存中预留一组好块设置为替换块；

扫描单元202，用于扫描闪存；

替换单元203，利用替换块中的好块，替换扫描出来的坏块，然后将被替换的坏块放置在好块的后面。