[发明专利]一种应用程序的开发调试方法及系统有效

专利信息
申请号: 200710076725.9 申请日: 2007-08-28
公开(公告)号: CN101201791A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 杨风光 申请(专利权)人: 深圳市同洲电子股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F9/50
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 代理人: 张全文
地址: 518057广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用程序 开发 调试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种应用程序的开发调试方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:

在内存中分配用于模拟闪存的内存空间;

所述应用程序与所述内存空间进行数据交互实现开发调试。

2.如权利要求1所述的应用程序的开发调试方法,其特征在于,所述应用程序与所述内存空间进行数据交互实现开发调试的步骤包括:

所述应用程序读取所述内存空间中的所述数据的读操作;

所述应用程序将所述数据全部置1的擦除操作;和

包括判断所述数据在赋值之前是否为全1的写成功判断步骤的写操作。

3.如权利要求1所述的应用程序的开发调试方法,其特征在于,所述在内存中分配用于模拟闪存的内存空间的步骤进一步包括:

在非易失性存储装置中创建掉电保护文件,向内存空间写入初始化空状态数据。

4.如权利要求3所述的应用程序的开发调试方法,其特征在于,所述应用程序与所述内存空间进行数据交互实现开发调试的步骤进一步包括:

在所述应用程序退出前,将所述内存空间中的数据写入所述掉电保护文件;

在所述应用程序下一次开发调试时的初始化过程中,将所述掉电保护文件的内容读入所述内存空间。

5.如权利要求1所述的应用程序的开发调试方法,其特征在于,所述应用程序与所述内存空间进行数据交互实现开发调试的步骤进一步包括:

在非易失性存储装置中创建掉电保护文件;

在所述应用程序退出前,将所述内存空间中的数据写入所述掉电保护文件;

所述应用程序下次开发调试的初始化过程中,将所述掉电保护文件的内容读入所述内存空间。

6.如权利要求3至5任意一项所述的应用程序的开发调试方法,其特征在于,所述创建掉电保护文件的步骤之后包括:

通过将错误数据写入所述掉电保护文件,测试所述应用程序的开机自动恢复数据功能。

7.一种应用程序的开发调试系统,其特征在于,所述系统包括:

内存空间分配模块,用于在内存中分配用于模拟闪存的内存空间;以及

应用程序开发调试模块,用于使所述应用程序与所述内存空间进行数据交互实现开发调试。

8.如权利要求7所述的应用程序的开发调试系统,其特征在于,所述应用程序开发调试模块包括:

读操作模块,用于读取所述内存空间中的所述数据;

擦除操作模块,用于将所述数据全部置1;和

写操作判断模块,用于判断所述数据在赋值之前是否为全1,当所述数据在赋值前为全1时写操作成功。

9.如权利要求7所述的应用程序的开发调试系统,其特征在于,所述应用程序开发调试模块进一步包括:

文件创建模块,用于在非易失性存储装置中创建掉电保护文件;以及

掉电保护模块,用于在所述应用程序退出前将内存中的所述数据写入所述掉电保护文件。

10.如权利要求9所述的应用程序的开发调试系统,其特征在于,所述应用程序开发调试模块进一步包括:

数据恢复测试模块,用于通过将错误数据写入所述掉电保护文件,测试所述应用程序的开机自动恢复数据功能。

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