[发明专利]一种LED芯片的检测方法无效
| 申请号： | 200710078657.X | 申请日： | 2007-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN101074980A | 公开（公告）日： | 2007-11-21 |
| 发明（设计）人： | 文玉梅;李平;李恋;文静 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 重庆弘旭专利代理有限责任公司 | 代理人： | 周韶红 |
| 地址： | 400044重*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 led 芯片 检测 方法 | ||
1、一种LED芯片的检测方法，其特征在于：它通过检测控制和信号采集处理单元(1)控制光源(2)发射激励光线(3)照射在形成回路的LED芯片(5)的受光面上，检测控制和信号采集处理单元(1)的检测探头(7)与形成回路的LED支架(6)的两支脚接触测量回路中的电流来实现LED芯片及其封装质量的检测。
2、一种LED芯片的检测方法，其特征在于：它通过检测控制和信号采集处理单元(1)控制光源(2)发射激励光线(3)照射在形成回路的LED芯片(5)的受光面上，与所述检测控制和信号采集处理单元(1)相连的磁场测量单元或非侵入式电流测量单元(8)采用非接触方式测量该回路中的电流产生的磁场或感生电动势来实现LED芯片及其封闭质量的检测。
3、如权利要求1或2所述的LED芯片的检测方法，其特征在于：所述检测控制和信号采集处理单元包括检测电路、模/数转换电路、CPU、显示器、光源控制波形产生电路和光源驱动电路，其中检测电路的输出端与模/数转换电路的输入端相连；模/数转换电路的输出端与CPU的输入端相连；CPU的输出端分别与模/数转换电路、光源控制波形产生电路和显示器的输入端相连；光源控制波形产生电路的输出端与光源驱动电路的输入端相连。
4、如权利要求1所述的LED芯片的检测方法，其特征在于：所述检测控制和信号采集处理单元(1)中设置多组检测电路以及相应的多组检测探头(7)。
5、如权利要求2所述的LED芯片的检测方法，其特征在于：所述检测控制和信号采集处理单元(1)中设置多组检测电路以及多组磁场测量单元或非侵入式电流测量单元(8)。
6、如权利要求4或5所述的LED芯片的检测方法，其特征在于：所述检测控制和信号采集处理单元(1)包括多组检测电路、多路开关电路、模/数转换电路、CPU、显示器、光源控制波形产生电路和光源驱动电路，其中各组检测电路的输出端分别经多路开关电路与模/数转换电路的输入端相连；模/数转换电路的输出端与CPU的输入端相连；CPU的输出端分别与多路开关电路、模数转换电路、光源控制波形产生电路、显示器的输入端相连；光源控制波形产生电路的输出端与光源驱动电路的输入端相连。
7、如权利要求2所述的LED芯片的检测方法，其特征在于：所述磁场测量单元(8)为磁传感器；非侵入式电流测量单元(8)为微弱电流检测电路。
8、如权利要求1或2所述的LED芯片的检测方法，其特征在于：所述激励光线(3)为静态光或脉冲光或固定频率的交变光。
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