[发明专利]显示板检查装置和方法无效
申请号: | 200710079111.6 | 申请日: | 2007-02-13 |
公开(公告)号: | CN101118713A | 公开(公告)日: | 2008-02-06 |
发明(设计)人: | 蜂须贺生治 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G09F9/00 | 分类号: | G09F9/00;G01M11/00;G02F1/13 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 检查 装置 方法 | ||
1.一种显示板检查装置(10,40,50),该显示板检查装置(10,40,50)对由多个像素(11)组成的显示板(12)进行检查,所述显示板检查装置(10,40,50)包括:
检测单元(13,14),其检测所述多个像素(11)中的每一个是否是有缺陷像素;和
保持单元(15),其保持所述检测单元(13,14)的检测结果。
2.根据权利要求1所述的显示板检查装置,其中,所述检测单元(13,14)包括:光检测单元(13),其产生与来自所述像素(11)的输出光(24)对应的检测状态;和判断单元(14),其基于所述检测状态来判断所述像素(11)是否是有缺陷像素,并且当该判断表示所述像素(11)是有缺陷像素时输出检测信号(d1),并且
所述保持单元(15)保持从所述判断单元(14)输出的检测信号(d1)的状态。
3.根据权利要求2所述的显示板检查装置,其中,所述光检测单元(13)包括根据所述多个像素(11)的排列方向而设置的多个光检测元件(25),
所述判断单元(14)包括多个有缺陷像素判断单元(26),所述多个有缺陷像素判断单元(26)各自按对应关系与所述多个光检测元件(25)中的相应光检测元件(25)相连接,并且
所述保持单元(15)包括多个锁存单元(28),所述多个锁存单元(28)各自按对应关系与所述多个光检测元件(25)中的相应光检测元件(25)相连接。
4.根据权利要求3所述的显示板检查装置,其中,所述多个光检测元件(25)是沿着具有矩形结构的所述显示板(12)的一条边设置的。
5.根据权利要求3所述的显示板检查装置,其中,所述多个光检测元件(25)是沿着具有矩形结构的所述显示板(12)的对角线设置的。
6.根据权利要求2到5中的任一项所述的显示板检查装置,该显示板检查装置进一步包括通知单元(16),所述通知单元(16)对从所述判断单元(14)输出了检测信号(d1)进行通知。
7.根据权利要求1到5中的任一项所述的显示板检查装置,该显示板检查装置进一步包括用于改变所述显示板(12)的工作环境的工作环境改变单元(17)。
8.根据权利要求6所述的显示板检查装置,该显示板检查装置进一步包括用于改变所述显示板(12)的工作环境的工作环境改变单元(17)。
9.根据权利要求7所述的显示板检查装置,其中,所述工作环境改变单元(17)包括用于改变所述显示板(12)的温度环境的温度环境改变单元。
10.根据权利要求7所述的显示板检查装置,其中,所述工作环境改变单元(17)包括用于对所述显示板(12)施加振动的振动施加单元。
11.一种显示板检查方法,该显示板检查方法检查由多个像素(11)组成的显示板(12),所述显示板检查方法包括以下步骤:
检测步骤,其检测所述多个像素(11)的每一个是否是有缺陷像素;和
保持步骤,其保持所述检测步骤中的检测结果。
12.根据权利要求11所述的显示板检查方法,其中,所述检测步骤包括:光检测步骤,其产生与来自所述像素(11)的输出光(24)对应的检测状态;和判断步骤,其基于所述检测状态来判断所述像素(11)是否是有缺陷像素,并且当该判断表示所述像素(11)是有缺陷像素时输出检测信号(d1),
在所述保持步骤中保持在所述判断步骤中输出的检测信号(d1)的状态。
13.根据权利要求12所述的显示板检查方法,其中,根据所述多个像素(11)的排列方向而多于一次地执行所述光检测步骤,并且
与所述多于一次地执行的光检测步骤中的每一次相关联地执行所述判断步骤和所述保持步骤。
14.根据权利要求13所述的显示板检查方法,其中,沿着具有矩形结构的所述显示板(12)的一条边执行所述光检测步骤。
15.根据权利要求13所述的显示板检查方法,其中,沿着具有矩形结构的所述显示板(12)的对角线执行所述光检测步骤。
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