[发明专利]可录式光盘刻录品质的动态检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光盘刻录品质的检测方法，且特别是有关于利用抖动值(Jitter)来决定光盘上检测位置的可录式光盘刻录品质的动态检测方法。

背景技术

可录式光驱在执行数据刻录动作之前必须在可录式光盘上先进行最佳化功率校正(Optimal Power Calibration，OPC)动作用以获得一最佳刻录功率(Optimal Write Power)并进行后续的数据刻录动作。请参照图1，其所绘示为可录式光盘的资讯区(Information Area)示意图。根据规格书(Specification)的规范，可录式光盘由内而外的资讯区100可区分为功率校正区(Powetr Calibration Area，PCA)10、数据记忆区(Program MemoryArea，PMA)20、导入区(Lea-In Area)30、数据区(Program Area)40、以及导出区(Lead-Out Area)50。而可录式光盘的光学读写头即利用功率校正区域进行最佳化功率校正动作。而最佳化功率校正动作则是利用光学读写头的激光二极管发射不同的刻录功率，而每一刻录功率皆可在功率校正区域上形成相对应的测试图样(Test Pattern)。经由读取不同刻录功率所形成的测试图样之后，可录式光盘即可经由计算而决定一最佳刻录功率以及写入策略(Write Strategy)，而所谓的写入策略即为驱动激光二极管在可录式光盘的轨道上形成标记(Mark)的驱动信号。

然而，可录式光驱经由计算后获得的最佳刻录功率有可能造成可录式光盘的刻录品质不理想。原因在于：

(1)可录式光驱最佳化功率校正动作有一定的时间限制，且可录式光盘上的功率校正区域的空间有限，因此可录式光驱无法进行完整的最佳化功率校正动作，可录式光驱仅可利用少数的刻录功率来形成相对应的测试图样，并利用内插法(interpolation)来决定最佳刻录功率。

(2)可录式光盘的功率校正区域是位于光盘的最内侧或者最外侧的区域，而最外侧与最内侧之间的大部分区域即为数据区，也就是可录式光驱执行数据刻录动作的区域。由于可录式光盘可能在染料(Dye)的涂布过程控制不当，造成可录式光盘的内外测功率校正区域的染料厚度与数据区不同，因此，可录式光盘刻录机经过计算之后获得的最佳刻录功率可能造成可录式光盘在数据区的刻录品质不理想。

(3)由于数据刻录动作的过程中，可录式光驱内部的温度会越来越高，使得光学读写头的激光输出功率随着温度的上升而下降，因此，也会造成刻录品质随着数据刻录动作的时间越长而逐渐变差。

(4)由于每台可录式光驱内的控制芯片以及光学读写头都会有些许的差异，使得设定在记忆体中的写入策略相同，但是，当数据刻录动作的完成后，仍会有部分的可录式光盘会有刻录品质不佳的问题。

为了解决上述问题，现有可录式光驱制造厂商提出一种在数据区进行最佳化功率校正动作，称之为运转中的最佳化功率校正(Running OPC)动作。也就是说，当可录式光驱在功率校正区域中求得最佳刻录功率之后在数据区进行数据刻录动作的过程中，为了保持较佳的可录式光盘的刻录品质，可录式光盘会在刻录一固定数量的数据或者刻录一固定时间之后暂停数据刻录动作，并根据前一段刻录数据来再次进行最佳化功率校正的动作，并重新计算出更新的最佳刻录功率使用在后续的数据刻录动作。也就是说，经由设定一固定数量的数据或者刻录一固定时间使得可录式光盘上的数据区有复数个固定间距的检测位置，如图1中的～i的检测位置，当可录式光驱在数据刻录动作的过程中到达其中一检测位置时即暂时中断数据刻录动作，并根据已经写入可录式光盘轨道上的数据进行最佳化功率校正，并更新最佳刻录功率，之后，在可录式光盘轨道上该检测位置之后继续以更新后的最佳刻录功率进行数据刻录动作。如此，不断的在可录式光盘的数据区进行最佳化功率校正动作，直到数据刻录动作完成。

上述运转中的最佳化功率校正虽能有效的提升可录式光盘的刻录品质。然而，每次可录式光驱到达检测位置并进行运转中的最佳化功率校正动作皆会耗费时间，使得数据刻录动作时间会延长。因此，如何有效的降低数据刻录动作的时间并且达成较佳的刻录品质即为本发明所要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提出一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法，经由动态的决定可录式光盘上的检测位置，使得光盘的刻录品质可以提升并可以缩短可录式光盘数据刻录动作的时间。