[发明专利]光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光盘装置的再现信号的高S/N化。

背景技术

光盘到了使用蓝色半导体激光器和高NA物镜的蓝光光盘达到制品化的阶段，作为光学系统的分辨率几乎达到了界限；面向进一步的大型化，今后认为多层化是有效的。在多层光盘中，因为来自各层的检测光量几乎变为同等的必要性，所以必须减小来自特定层的反射率。可是，光盘在大容量的同时，由于视频等的复制速度的高速化的必要性，传送速度也持续高速化，以原有状态无法充分确保再现信号的S/N比。因此，为了同时进行今后的多层化和高速化，检测信号必须高S/N化。

涉及光盘的再现信号的高S/N化的技术例如在专利文献1、专利文献2中有记载。上述文献都涉及光磁盘的再现信号的高S/N化，目的在于把来自半导体激光器的光在照射光盘之前分支，使不照射光盘的光与来自半导体激光器的光合波并干涉，来增大不照射光盘的光的光量，从而把微弱的信号的振幅放大。在现有的光磁盘的信号检测中使用的偏振分光镜的透过光和反射光的差动检测中，本质上把原来的入射偏振成分和由基于光磁盘的偏振旋转而产生的与入射偏振方向正交的偏振成分干涉，用入射偏振把正交偏振成分放大，进行检测。因此，虽然增大原来的入射偏振成分就能增大信号，但是为了不删除或覆盖数据，有必要将入射于光盘的光强度抑制在某程度以下。而在所述现有技术中，预先分离与信号光干涉的光，不把它会聚到光盘上地与信号光干涉，用于信号放大的干涉光强度可以与盘表面的光强度无关地增强。据此，在原理上，在允许的光强度范围中，强度越强，就越能提高与把来自光检测器的光电流进行电压变换的放大器的噪声、以及由光检测器产生的散粒噪声相比的S/N比。

在专利文献1中，使2个光干涉，检测干涉强度.这时，干涉的光盘非反射光的光路长度可变，目的在于确保干涉信号振幅。在专利文献2中，除了干涉强度的检测，还进行差动检测。据此，消除对信号无贡献的各光的强度成分，消除这些光具有的噪声成分，实现高S/N化。在这时的差动检测中使用无偏振的分光镜。

[专利文献1]特开平5-342678号公报

[专利文献2]特开平6-223433号公报

发明内容

所述的现有技术中所使用的干涉计的光学系统都是马赫-曾德型的光学系统，光学部件的个数多，不利于光学系统的小型化。虽然在所述文献中未详细描述使用马赫-曾德型的光学系统的理由，但是推测是为了光磁盘的信号光由偏振旋转产生、为了干涉的光偏振方向的调整、为了必须将能进行旋转调整的λ/2板只在单方向透过而不往返地配置在干涉的光路中的缘故。作为其它问题，未特别描述两个光的光路差的调整方法，列举了在实用上有困难。在专利文献2中，对于该问题，描述在盘上与记录膜分开地设置用于取得干涉的光的参照镜，但是它提出了新规格的盘，而不是把现有盘高S/N化。

鉴于所述现有技术，本发明的目的在于，廉价地提供具有两个光的光路差容易调整、信号放大效果高、并适合于小型化的干涉型的光盘信号检测系统的光盘装置。

为了使光路差容易调整，在本发明的一个方式中，一体地构成光学系统，用自动聚焦驱动把光学系统对于光盘在光轴方向上驱动。据此，像用自动焦点控制只移动物镜的情况那样，不改变光学系统中的光路长度，能缩小光路差的控制范围，使控制变得容易。现有技术已提出了各种的一体地构成光学系统并使全体在聚焦方向驱动的光头的方案，但是它们的本质目的不是固定光路长度，而是从超小型的光头去掉聚焦致动器，使制作变得容易。而在本发明中，是为了在干涉光学系统中实现高S/N化而把光学系统一体化的。

作为干涉计，如果不使用马赫-曾德型而使用特外曼-格林型的光学系统，则可以使光学系统小型化、分光镜的个数减少、低价格化变为可能。在所述现有技术中，不使用特外曼-格林型的干涉光学系统的理由推测是为了调整与光磁盘的偏振旋转光干涉的光的偏振方向，有必要在单向光路中插入λ/2板，但是在相变型光盘、以及具有凹凸位的再现专用光盘等没有偏振旋转的光盘中，特外曼-格林型的光学系统能小型地构成光学系统。为了构成特外曼-格林型的光学系统，使用偏振分光镜，对于最初的入射光，在偏振分光镜的透过一侧和反射一侧的两侧的往返光路中都插入λ/4板。据此，来自光盘的反射光和来自参照镜的反射光在原理上都不损失，能前进到差动检测用的偏振分光镜。这时，2个光的偏振方向彼此正交。这种状态下两个光无法干涉，所以用λ/2板使它对于第二偏振分光镜的主轴方向倾斜45度地入射，在透过光和反射光分别使偏振光一致干涉，把检测强度的差动信号作为检测信号。