[发明专利]光学信息再现装置及利用该装置的光学信息再现方法

权利要求书

1、一种光学信息再现装置，该光学信息再现装置包括：

光源；

分束器，其将从所述光源发射的光束分束为参考光束和临时光束；

临时光束分束器，其将所述临时光束分束为一对辅助光束；

入射光学系统，其向记录有光学信息的记录介质输入所述参考光束和所述辅助光束；

再现光束检测器，其检测响应于所述参考光束而再现的再现光束；以及

辅助光束检测器，其检测由所述光学信息衍射的所述辅助光束的光强，以读出所述记录介质的倾角。

2、根据权利要求1所述的光学信息再现装置，其中，所述再现光束检测器检测响应于所述参考光束而再现的再现光束、将所述再现光束具有最大光强的位置设置为基准位置、并基于所述基准位置来设置信号区域。

3、根据权利要求2所述的光学信息再现装置，其中，所述辅助光束检测器将入射到所述信号区域上的所述一对辅助光束的光强相互进行比较，并设置所述参考光束的入射角。

4、根据权利要求3所述的光学信息再现装置，其中，将所述参考光束的入射角设置为使得所述辅助光束之间的光强差减小。

5、根据权利要求1所述的光学信息再现装置，其中，所述辅助光束从相对于所述参考光束成一倾角的不同位置处入射到所述记录介质上。

6、根据权利要求5所述的光学信息再现装置，其中，记录在所述记录介质中的光学信息是全息干涉图案，并且所述辅助光束入射到所述参考光束入射的一个位置处，并随所述参考光束一同被衍射。

7、根据权利要求1所述的光学信息再现装置，其中，所述参考光束和所述辅助光束入射到所述记录介质上的同一位置处，并且

其中，所述光学信息再现装置还包括分束器，该分束器将从所述记录介质再现的所述再现光束与通过所述记录介质的所述辅助光束分开。

8、根据权利要求7所述的光学信息再现装置，其中，所述辅助光束检测器包括沿控制所述参考光束的倾斜方向排列的多个光电二极管。

9、根据权利要求8所述的光学信息再现装置，其中，所述光电二极管的排列长度大于所述辅助光束的入射位置之间的距离和在控制所述倾角时所述参考光束的入射位置的移动距离的总长度。

10、一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括以下步骤：

向存储有复用的光学信息的记录介质输入参考光束和辅助光束；

检测由光学信息衍射的辅助光束，来测量所述记录介质的倾角；

将所述记录介质的所测量的倾角与设定值进行比较；

确定所述记录介质的倾角；

根据所述记录介质的所确定的倾角，来设置所述参考光束的入射角；并且，

根据所述参考光束的所设定的入射角来校正所述参考光束的入射角。

11、根据权利要求10所述的光学信息再现方法，其中，输入参考光束和辅助光束的所述步骤包括以下步骤：

利用所述参考光束扫描所述记录介质的光学信息；

根据扫描到的光学信息来设置响应于所述参考光束而发射最大光强的基准位置；以及

根据所述基准位置来设置响应于所述参考光束而发射预定光强的信号区域。

12、根据权利要求10所述的光学信息再现方法，其中，检测辅助光束的所述步骤包括以下步骤：

检测多个辅助光束；

将具有最大检测值的辅助光束与具有次最大检测值的辅助光束相互进行比较；并且

基于比较结果计算所述记录介质的倾角。

13、根据权利要求12所述的光学信息再现方法，其中，校正参考光束的入射角的所述步骤包括如下步骤：将所述参考光束的入射角设置为使得所比较的辅助光束之间的光强差减小。

14、一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括以下步骤：

向存储有光学信息的记录介质输入用于再现光学信息的参考光束和多个辅助光束；

检测由所述记录介质衍射的辅助光束；

将检测到的辅助光束与所述辅助光束的设定值进行比较；以及

根据比较结果计算所述记录介质的倾角。