[发明专利]碳纳米管链及其生产工艺和目标检测器及目标检测方法无效

专利信息
申请号: 200710091933.6 申请日: 2007-03-30
公开(公告)号: CN101070154A 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 伊藤健一;益田秀树;京谷隆 申请(专利权)人: 富士通株式会社;国立大学法人东北大学;财团法人神奈川科学技术研究院
主分类号: C01B31/02 分类号: C01B31/02;B82B3/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 高龙鑫
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 纳米 及其 生产工艺 目标 检测器 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种碳纳米管链,其包括:

载体;和

一端与载体表面结合的多个碳纳米管,

其中多个碳纳米管定向于与载体表面基本上成一直角的方向;所述载体为线状物件且所述碳纳米管排列成行,其中所述载体由碳制成。

2.根据权利要求1所述的碳纳米管链,其中与所述载体结合的各碳纳米管的一端为开口的,且其另一端为封闭的。

3.根据权利要求1所述的碳纳米管链,其中所述多个碳纳米管的长度、厚度和外径中至少之一是相同的。

4.根据权利要求1所述的碳纳米管链,其中所述碳纳米管的平均长度为1μm或更小。

5.根据权利要求1所述的碳纳米管链,其中所述碳纳米管用功能材料覆盖。

6.根据权利要求1所述的碳纳米管链,其中所述碳纳米管链用于捕获检测目标。

7.根据权利要求1所述的碳纳米管链,其中所述碳纳米管链包括目标捕获体,所述目标捕获体含有能够与碳纳米管结合的结合部分和能够捕获检测目标的目标捕获部分。

8.根据权利要求7所述的碳纳米管链,其中所述碳纳米管和目标捕获体由化学键结合在一起。

9.一种目标检测器,其包括:

碳纳米管链;和

固定器;

其中所述碳纳米管链包括能够捕获检测目标的捕获部分,且

其中所述碳纳米管链包括载体和一端与载体表面结合的多个碳纳米管,其中所述多个碳纳米管定向于与载体表面基本上成一直角的方向;

所述载体为线状物件且所述碳纳米管排列成行,其中所述载体由碳制成。

10.根据权利要求9所述的目标检测器,其中所述捕获部分由目标捕获体形成,所述目标捕获体包括能够与碳纳米管结合的结合部分和能够捕获检测目标的目标捕获部分。

11.一种用于生产碳纳米管链的工艺,其包括:

在金属层形成凹槽;

进行纳米孔形成处理以形成纳米孔结构,其中纳米孔行于各凹槽中形成,所述纳米孔定向于与金属层表面基本上成一直角的方向;

在各纳米孔中形成碳纳米管;

除去凹槽间金属层的基面表面上沉积的碳;且

溶去金属层;

其中所述碳纳米管链包括载体和一端与载体表面结合的多个碳纳米管,其中所述多个碳纳米管定向于与载体表面基本上成一直角的方向;

所述载体为线状物件且所述碳纳米管排列成行,其中所述载体由碳制成。

12.根据权利要求11所述用于生产碳纳米管链的工艺,其中金属层由铝制成。

13.根据权利要求11所述用于生产碳纳米管链的工艺,其中所述各凹槽的宽度沿着其长度以整齐的间距改变。

14.根据权利要求11所述用于生产碳纳米管链的工艺,其中所述的纳米孔形成处理为阳极处理。

15.根据权利要求11所述用于生产碳纳米管链的工艺,其中所述碳纳米管由化学气相沉积形成。

16.根据权利要求11所述用于生产碳纳米管链的工艺,其中除去沉积在金属层的基面表面上的碳是通过包裹或化学机械抛光中的至少一种进行的。

17.根据权利要求11所述用于生产碳纳米管链的工艺,其中除去沉积在金属层的基面侧面上的碳是通过与基面的长度和高度成角度地施加离子束和电子束中的一种而进行的。

18.一种目标检测方法,其包括:

使目标检测器在含有检测目标的样本上作用,

其中所述目标检测器包括碳纳米管链和固定器,

其中所述碳纳米管链包括载体和一端与载体表面结合的多个碳纳米管,其中所述多个碳纳米管定向于与载体表面基本上成一直角的方向,所述载体为线状物件且所述碳纳米管排列成行,其中所述载体由碳制成;且

其中所述碳纳米管链包括能够捕获检测目标的捕获部分。

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