[发明专利]微机电系统压力传感器及其制作方法有效
申请号: | 200710094407.5 | 申请日: | 2007-12-07 |
公开(公告)号: | CN101450786A | 公开(公告)日: | 2009-06-10 |
发明(设计)人: | 刘蓓 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微机 系统 压力传感器 及其 制作方法 | ||
1.一种微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,包括下列步骤:
在半导体衬底中形成压力腔开口;
在半导体衬底上键合绝缘体上硅基片,形成压力腔,所述绝缘体上硅基片包括顶层硅层、埋氧层和衬底硅层,其中顶层硅层与半导体衬底键合;
去除衬底硅层至露出埋氧层;
在埋氧层上形成氧化硅层;
蚀刻氧化硅层和埋氧层至露出顶层硅层,形成与后续敏感电阻位置对应的开口;
沿开口向顶层硅层注入离子,形成敏感电阻;
在氧化硅层上形成导电层,且导电层填充满开口,形成与敏感电阻连通的电极。
2.根据权利要求1所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述压力腔开口的深度为后续加压时,顶层硅层有释放的空间。
3.根据权利要求2所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述顶层硅层为N型硅。
4.根据权利要求1所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,向顶层硅层注入的离子为P型离子。
5.根据权利要求4所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述P型离子为硼离子。
6.根据权利要求1所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,形成导电层的方法为磁控溅射法。
7.根据权利要求6所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述导电层的材料为铝或金。
8.一种微机电系统压力传感器,包括:半导体衬底;位于半导体衬底内的压力腔,其特征在于,还包括:
绝缘体上硅基片中的顶层硅层,与半导体衬底键合,覆盖压力腔;绝缘体上硅基片中的埋氧层,位于顶层硅层上;位于埋氧层上的氧化硅层;开口,贯穿氧化硅层和埋氧层至露出顶层硅层;敏感电阻,位于顶层硅层中,与开口位置对应;电极,位于开口内和氧化硅层上,与敏感电阻连通。
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