[发明专利]微机电系统压力传感器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200710094407.5 申请日: 2007-12-07
公开(公告)号: CN101450786A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 刘蓓 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 逯长明
地址: 201203*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 微机 系统 压力传感器 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,包括下列步骤:

在半导体衬底中形成压力腔开口;

在半导体衬底上键合绝缘体上硅基片,形成压力腔,所述绝缘体上硅基片包括顶层硅层、埋氧层和衬底硅层,其中顶层硅层与半导体衬底键合;

去除衬底硅层至露出埋氧层;

在埋氧层上形成氧化硅层;

蚀刻氧化硅层和埋氧层至露出顶层硅层,形成与后续敏感电阻位置对应的开口;

沿开口向顶层硅层注入离子,形成敏感电阻;

在氧化硅层上形成导电层,且导电层填充满开口,形成与敏感电阻连通的电极。

2.根据权利要求1所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述压力腔开口的深度为后续加压时,顶层硅层有释放的空间。

3.根据权利要求2所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述顶层硅层为N型硅。

4.根据权利要求1所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,向顶层硅层注入的离子为P型离子。

5.根据权利要求4所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述P型离子为硼离子。

6.根据权利要求1所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,形成导电层的方法为磁控溅射法。

7.根据权利要求6所述微机电系统压力传感器的制作方法,其特征在于,所述导电层的材料为铝或金。

8.一种微机电系统压力传感器,包括:半导体衬底;位于半导体衬底内的压力腔,其特征在于,还包括:

绝缘体上硅基片中的顶层硅层,与半导体衬底键合,覆盖压力腔;绝缘体上硅基片中的埋氧层,位于顶层硅层上;位于埋氧层上的氧化硅层;开口,贯穿氧化硅层和埋氧层至露出顶层硅层;敏感电阻,位于顶层硅层中,与开口位置对应;电极,位于开口内和氧化硅层上,与敏感电阻连通。

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