[发明专利]编程存储单元块的方法、非易失性存储器件和存储卡器件

权利要求书

1.一种用于编程非易失性存储器件的存储单元块的方法，所述方法包括：

选择所述存储单元块的第一组存储单元；

将至少一个编程脉冲编程到第一组的所有存储单元中；

仅检测第一组的每一个所述存储单元的阈值电平；以及

通过将每一个检测的阈值电平与提供给每一个第一组存储单元的预定义目标电平相比较，来验证第一组存储单元。

2.如权利要求1所述的方法，其中选择第一组存储单元包括选择要编程到第一逻辑值的所有存储单元作为第一组存储单元。

3.如权利要求1所述的方法，其中选择第一组存储单元包括：

检测所述存储单元块的每一个所述存储单元的第一阈值电平；

通过将每一个第一检测的阈值电平与提供给所述存储单元块的每一个所述存储单元的预定义目标电平相比较，来验证所述存储单元块；以及

选择未成功验证的所有存储单元作为第一组存储单元。

4.如权利要求1所述的方法，其中重复执行所述编程、检测和验证步骤，直到第一组存储单元的所有存储单元都已成功验证为止。

5.如权利要求4所述的方法，其中在验证第一组存储单元的所述步骤中，已成功验证的存储单元从第一组中移除，以便当第一组为空时，第一组存储单元的所有存储单元都已成功验证。

6.如权利要求1所述的方法，其中第一组存储单元的至少一些存储单元被顺序验证。

7.如权利要求1所述的方法，其中第一组存储单元的至少一些存储单元被并行验证。

8.一种用于编程非易失性存储器件的存储单元块的方法，所述方法包括：

选择要编程到编程状态的存储单元块的存储单元作为第一组；以及

当第一组包含至少一个存储单元时，执行如下步骤：

将至少一个编程脉冲编程到第一组的所有存储单元中；

仅检测第一组的每一个所述存储单元的阈值电平；

将每一个检测的阈值电平和与所述编程状态相关联的预定义目标电平相比较；以及

重新分配第一组，以使它仅包含阈值电平低于与所述编程状态相关联的所述预定义目标电平的存储单元。

9.如权利要求8所述的方法，其中使用如下步骤将所述存储单元块准备用于编程：

将所述存储单元块的所有存储单元编程到所述编程状态；以及

将所述存储单元块的所有存储单元编程到擦除状态。

10.一种用于编程非易失性存储器件的存储单元块的方法，所述方法包括：

选择所述存储单元块的第一组存储单元；以及

当第一组包含至少一个存储单元时，执行如下步骤：

将至少一个编程脉冲编程到第一组的所有存储单元中；

仅检测第一组的每一个所述存储单元的阈值电平；以及

如果所述存储单元的所检测电平位于预定义目标范围内，则从第一组中移除所述存储单元。

11.一种用于编程非易失性存储器件的存储单元块的方法，所述方法包括：

选择要编程的所述存储单元块的第一组存储单元；

将至少一个编程脉冲并行编程到第一组的所有存储单元中；及

用预定义阈值电平顺序验证所述存储单元块的存储单元的所检测阈值电平，这样做跳过不包含在第一组中的存储单元的验证。

12.如权利要求11所述的方法，其中成功验证的存储单元从第一组中移除。

13.一种用于编程非易失性存储器件的多电平存储单元块的方法，所述方法包括：

为所述存储单元块的每个存储单元提供目标阈值范围；

将所述存储单元块的所有存储单元编程到第一最低阈值范围；以及

重复执行如下步骤：

选择要编程到较高阈值范围的所述存储单元块的所有存储单元；

将至少一个编程脉冲编程到所有选择的存储单元中；

仅检测每一个选择的存储单元的阈值电平；以及

如果所述存储单元的所检测阈值电平位于为该存储单元提供的目标阈值范围内，则从第一组中移除所述存储单元；

直到所述存储单元块的所有存储单元都已达到它们各自的目标阈值范围为止。