[发明专利]半导体集成电路系统、半导体集成电路、操作系统和半导体集成电路的控制无效
申请号: | 200710097923.3 | 申请日: | 2007-04-18 |
公开(公告)号: | CN101078997A | 公开(公告)日: | 2007-11-28 |
发明(设计)人: | 屉川幸宏 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G06F11/00 | 分类号: | G06F11/00;G05F1/10;G01R31/28 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐金国;梁挥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 系统 操作系统 控制 | ||
1、一种半导体集成电路系统,包括:
执行程序的控制对象电路;
输出表示所述控制对象电路状态的系统信息的系统信息监视部;
求出所述控制对象电路的电路特性并将所述电路特性作为电路特性信息输出的电路特性监视部;
根据所述系统信息判断所述控制对象电路是否正常工作的故障判断部;
当所述控制对象电路正常工作时,将所述电路特性信息作为基准电路特性信息进行保持的基准电路特性保持部;
当所述控制对象电路不能正常工作时,根据所述电路特性监视部检测出的电路特性信息和所述基准电路特性信息判断故障原因的故障原因判断部;
根据所述故障原因判断所述控制对象电路中的校正对象,生成并输出所述校正对象中的目标电子的特性信息的校正对象判断部;以及
根据所述目标电子特性信息控制所述控制对象电路的电子特性控制部。
2、根据权利要求1所述的半导体集成电路系统,其特征是:
所述系统信息监视部将所述控制对象电路的状态作为所述系统信息输出以及
所述故障判断部,在预定时间所述控制对象电路的状态是预定的状态时,判断所述控制对象电路是正常工作,其他的情况判断所述控制对象电路是非正常工作。
3、根据权利要求1所述的半导体集成电路系统,其特征是:
所述系统信息监视部,将表示调用所述程序中的误差恢复程序信息作为所述系统信息输出,以及
所述故障判断部,在所述程序中的误差恢复程序被调用规定次数以上时,判断所述控制对象电路是非正常工作,其他的情况判断所述控制对象电路是正常工作。
4、根据权利要求1所述的半导体集成电路系统,其特征是
所述系统信息监视部,将表示操作系统正常关闭的信息作为系统信息输出,以及
所述故障判断部,在操作系统前次没有正常关闭时,判断所述控制对象电路是非正常工作,其他的情况判断所述控制对象电路是正常工作。
5、根据权利要求1所述的半导体集成电路系统,其特征是
所述系统信息监视部,将表示所述程序执行时发生误差的信息作为系统信息输出,以及
所述故障判断部,在发生所述误差时,判断所述控制对象电路是非正常工作,其他的情况判断所述控制对象电路是正常工作。
6、根据权利要求1所述的半导体集成电路系统,其特征是所述系统信息监视部,确定在所述控制对象电路的预定布线上产生的噪声的大小作为所述电路特性。
7、根据权利要求6所述的半导体集成电路系统,其特征是所述电路特性监视部包括:
具有施加有作为预定布线上的信号的检测对象信号的栅极、施加有第一参考电压的源极和连接到第一动态结点的漏极的第一n型晶体管;
具有施加有检测对象信号的栅极、施加有第二参考电压的源极和连接在第二动态结点的漏极的第一p型晶体管;
具有施加有电源电压的源极和与所述第一动态结点连接的漏极的第二p型晶体管,其根据复位信号向所述第一动态结点充电;
具有施加有接地电压的源极和连接在所述第二动态结点的漏极的第二n型晶体管,其根据复位信号向所述第二动态结点放电;
作为输出,具有所述第一动态结点,并接收比给出所述检测对象信号的所述布线的部分接近驱动所述布线的元件的所述预定布线的部分上的信号的基准信号的NOR电路;
作为输出,具有所述第二动态结点,并接收所述基准信号的NAND电路;
通过所述NOR电路的输出设置的第一锁存器;
通过所述NAND电路的输出设置的第二锁存器;
将所述第一及第二锁存器的输出逻辑和作为检测信号输出的OR电路,所述检测信号表示对应所述第一或者第二的参考电压大小的噪声。
8、根据权利要求1所述的半导体集成电路系统,其特征是所述电路特性监视部,是将所述控制对象电路预定布线中的信号的转换时间大小作为所述电路特性求出的。
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