[发明专利]基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法

权利要求书

1、基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，其特征在于通过以下步骤实现：

(1)连续激光入射到两块相同的平凹高反射腔镜、凹面镀高反膜且凹面相对构成的直腔，控制第一块腔镜反射回激光器谐振腔的后向反馈光光强，使光腔输出信号中出现共振尖峰并使其峰值达到最大；

(2)当光腔输出信号中尖峰信号幅值高于设定的阈值时，触发关闭激光束，由直腔输出的衰荡信号拟合得到直腔衰荡时间并计算得到腔镜反射率；

(3)保持腔长不变，在两块相同的平凹高反射腔镜之间加入高反射测试镜构成的折叠腔，当折叠腔输出信号中尖峰信号幅值高于设定的阈值时触发关闭激光束，由折叠腔输出信号拟合得到折叠腔衰荡时间，通过计算机按照单指数衰减函数拟合得到直腔衰荡时间，再由计算得到腔镜反射率R。

2、根据权利要求1所述的基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，其特征在于：所述后向反馈光的强度通过以下方式控制：

(1)在半导体激光器和第一块腔镜之间垂直于光路插入线偏振片，在垂直于光路的平面内旋转线偏振片的角度，使光腔输出信号中尖峰信号幅值达到最大；

(2)在半导体激光器和第一块腔镜之间插入光隔离器，使光腔输出信号中尖峰信号幅值达到最大；

(3)在半导体激光器和第一块腔镜之间插入衰减强度渐变的中性密度滤光片或衰减片，并调节衰减强度，使光腔输出信号中尖峰信号幅值达到最大；

(4)在半导体激光器和第一块腔镜之间插入光阑或者可变光阑，使光腔输出信号中尖峰信号幅值达到最大；

(5)调节第一块腔镜的俯仰，使光腔输出信号中尖峰信号幅值达到最大；

(6)调节半导体激光器与第一块腔镜之间沿光路方向的距离，使光腔输出信号中尖峰信号幅值达到最大。

3、根据权利要求1所述的基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，其特征在于：所述连续激光由连续半导体激光器产生，其光强采用方波调制或者直流输入。

4、根据权利要求1所述的基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，其特征在于：所述连续激光入射进光腔之前采用空间滤波和望远系统使激光横模与衰荡光腔本征横模匹配，或者直接入射进光腔。

5、根据权利要求1所述的基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，其特征在于：所述的阈值由控制触发电路设定，根据光腔输出信号中共振尖峰的分布特征设定阈值在尖峰最大振幅的50％-99％范围。

6、根据权利要求1所述的基于半导体激光器自混合效应的高反射率测量方法，其特征在于：所述的高反膜的反射率大于99％。