[发明专利]一种稀土镁合金凝固过程热分析装置有效
申请号: | 200710099319.4 | 申请日: | 2007-05-16 |
公开(公告)号: | CN101308105A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 邹宏辉;李德富;马志新;沈健 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院 |
主分类号: | G01N25/06 | 分类号: | G01N25/06;G01N25/02 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 耿小强 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 稀土 镁合金 凝固 过程 分析 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种稀土镁合金凝固过程热分析装置,该发明属于材料科学领域。
背景技术
稀土元素可明显改善镁合金的力学性能和耐蚀性能,其中以Nd、Y的改善效果为显著。稀土元素对镁合金的强化作用主要源于稀土沉淀相的强化作用。合金凝固过程中,稀土相一般在较高温度下就已形成,形成温度均超过500℃。
镁的化学性质非常活泼,在常温下极容易与其它元素发生化学反应,高温下镁甚至能与空气中的N2反应生成Mg3N2。镁活泼的化学特性不仅为镁合金的熔炼带来困难,更为合金凝固过程的研究与分析带来棘手的问题,其中以稀土镁合金的凝固过程分析为典型,因为稀土相一般高于500℃就已形成。目前合金的凝固过程的热分析仪器主要有示差热分析仪(DTA)和差式扫描量热仪(DSC),其中DSC热分析仪结果较精确。但是这两种常规的热分析仪器均不适合镁合金凝固过程的分析。其原因在于一旦镁合金分析样品超过500℃,会在仪器中发生剧烈燃烧,轻者影响测量结果,重者损坏贵重的测量仪器。这是由于目前这些仪器所提供的保护气氛为N2和Ar气,而在高温下这些气体对镁合金均不能起到很好的保护作用。因而,目前的热分析实验室所提供的镁合金热分析装置不超过450℃,不能全程跟踪镁合金的凝固过程。另外,镁合金在添加稀土元素后,所得新相的放热峰有时与原合金组成相放热峰相互叠加,无法区分。鉴于上述原因,本发明提供一种测量稀土镁合金新相形成温度区间的热分析装置。
发明内容
本发明的目的是提供一种稀土镁合金凝固过程的热分析装置。
为实现上述目的,本发明采取以下技术方案:
一种稀土镁合金凝固过程热分析装置,其特征在于:所述装置包括试样加热系统,保护气体输送系统,温度控制系统,熔体点温度探测系统以及数据处理系统;所述试样加热系统通过紫铜管与所述保护气体输送系统相连接;所述温度控制系统通过热电偶、温控开关与所述试样加热系统相连接;所述熔体点温度探测系统通过穿过炉盖的镍铬-镍硅热电偶丝与所述试样加热系统相连接;所述数据处理系统通过导线与所述熔体点温度探测系统相连接。
一种优选技术方案,其特征在于所述试样加热系统包括一个电阻炉3,两个坩埚5和8,坩埚内壁涂有隔离涂层,坩埚5和8用绝热层9隔开,坩埚电阻炉3上方有一个圆形炉盖,炉盖上设有四个大小不等的圆孔,分别用于热电偶导线、CO2+SF6进气管通过。
一种优选技术方案,其特征在于所述的保护气体输送系统为安装在所述炉盖上的管道1(其一端位于电阻炉内,另一端与气源相连接),所述保护气体为混合气体,通过该管道输送到电阻炉3中。
一种优选技术方案,其特征在于所述混合气体的流量比为SF6:CO2=1:100-1.2:98(体积比),气压为0.3-1.0Kg/cm2,试验过程中连续送气(优选值为0.7Kg/cm2)。
一种优选技术方案,其特征在于所述的温度控制系统包括热电偶6,其一端位于绝缘层9的上方,另一端与控制柜相连接,用来调节电阻炉内的温度。
一种优选技术方案,其特征在于所述的熔体点温度探测系统包括两根镍铬-镍硅热电阻丝2,其一端分别与坩埚5和8中的熔体接触,另一端与采集卡相连接,分别对坩埚5和8内熔体点温度进行探测。
一种优选技术方案,其特征在于所述的镍铬-镍硅热电偶丝2的直径均为0.2mm,热电偶丝2外采用外径为2mm的双孔陶瓷管套住以减少热电偶丝2本身对测量温度的影响,热电偶丝2外接导线与数据采集模块相连接,将温度信号传送至TDA8ActiveX control(OCX)数据采集模块。
一种优选技术方案,其特征在于所述的数据处理系统包括一OCX数据采集模块、一微型计算机及其相应的软件系统,所述OCX数据采集模块插在微型计算机后面的并行接口上。
本发明的稀土镁合金凝固过程热分析装置的实验步骤如下:
将相同重量的待测稀土镁合金试样和参比镁合金试样,分别放入相同规格的小钢质坩埚5和8中,在电阻炉中加热至熔化,加热与冷却过程在(SF6+CO2)混合气体的保护下进行;待两坩埚中样品彻底熔化并趋同于720℃,电阻炉断电冷却,坩埚5和8中的熔体随炉冷却,镍铬-镍硅热电偶丝将热电信号传递给OCX数据采集系统,数据采集系统每隔0.05秒记录一次熔体冷却温度。
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