[发明专利]基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统

权利要求书

1、基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统，其特征在于：由连续表面变形镜、基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器和工控机组成，其中基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器包括：第一半透半反镜、针孔滤波器、全反射镜、光衰减器、移相器、第一成像探测器和第二成像探测器，像差波面进入系统后，首先经过连续表面变形镜的反射，进入基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器，经过第一半透半反镜将波面分为两束，其中一束作为待探测波前信息源经半透半反镜反射后再经全反射镜反射经光衰减器衰减后，至第二半透半反镜处；同时透射过第一半透半反镜的光束经过针孔滤波器后产生了参考光束，该参考光束再经移相器的反射最后到达第二半透半反镜处，两束光波在第二半透半反镜处形成干涉条纹，分别成像于第一成像探测器和第二成像探测器上，此时移相器不产生相位差，第一成像探测器和第二成像探测器同时将采集到两幅干涉图像输出到工控机中，之后使移相器产生一个π/2的相位差，再将第一成像探测器和第二成像探测器采集的两幅干涉图像输出至工控机中，在两步移相后得到4幅移相干涉图，在工控机中作一次矩阵运算后即可得到波前信息，将其共轭后输出到连续表面变形镜中，进行闭环波前校正。

2、根据权利要求1所述的基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统，其特征在于：所述的连续表面变形镜的单元排列与单元数目与基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器中的两个成像探测器中探测像素排列相匹配。

3、根据权利要求1所述的基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统，其特征在于：所述的连续表面变形镜采用PZT、或PMN材料制成。