[发明专利]制备单质钨膜的方法有效

专利信息
申请号: 200710100161.8 申请日: 2007-06-05
公开(公告)号: CN101319304A 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: 王海斗;徐滨士;庄大明;张弓;刘家浚;李国禄;朱丽娜;康嘉杰 申请(专利权)人: 中国人民解放军装甲兵工程学院
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/14;C23C14/54;C23C14/02
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 代理人: 程凤儒
地址: 100072北京市丰台*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 制备 单质 方法
【权利要求书】:

1.一种制备单质钨膜的方法,其特征在于,包括以下工艺:以45#钢 作为成膜基体,镀膜前将基体经过淬火处理,硬度为55HRC,经磨削后表 面粗糙度为0.4μm;镀膜前将基体加热至:150℃;在磁控溅射设备中, 高纯氩气环境下采用纯钨靶在基体上溅射沉积钨膜;

工作气体为:99.999%的高纯Ar气;

工作气压为:3×10-3Pa;

溅射电流为:2A;

W膜的沉积速率为75nm/min;

最终得到的W为纳米膜的厚度为:2μm。

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