[发明专利]性能监测设备和数据收集方法无效
申请号: | 200710100866.X | 申请日: | 2007-04-20 |
公开(公告)号: | CN101059772A | 公开(公告)日: | 2007-10-24 |
发明(设计)人: | 松崎秀则;前田诚司 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 性能 监测 设备 数据 收集 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种性能监测设备和数据收集方法。特别地,本发明涉及一种用于收集用来评估处理器的运行状态的数据的性能监测设备和数据收集方法。
背景技术
提供性能监测设备用于收集关于处理器中发生的事件的发生状态的数据。该性能监测设备具有各自相应于每个事件的计数器。每当事件发生时,性能监测设备增加相应于所述事件的计数器的计数器值,并在预定的间隔时间完成时将所述计数器值存储在称为跟踪缓冲器的内部缓冲器中。
通过这种方式,每个预定间隔时间获得的每个计数器值被存储在所述跟踪缓冲器中,从而所述性能监测设备可以识别每个时间间隔的事件的发生状态。
可选择地,已经提出了一种方法,其中关于可能在很大程度上引起处理器的性能恶化的事件的统计数据,和关于其他事件的统计数据被分别存储在不同的存储器中(JP-A 2001-142747(KOKAI))。
在常规的性能监测设备中,通过在处理器中发生的巨量事件之中预先仅选择预定的特定事件,然后对这些预定的特定事件的发生次数进行计数,来降低计数器数量。
具体地,如图1所示,分别与预定事件相关的计数器,例如,三个计数器C1到C3被布置在常规的性能监测设备中,计数器分别对与计数器C1到C3相关的事件的发生次数进行计数。使用这种结构,如果与计数器C1相关的事件发生,则计数器C1被增量,如果与计数器C2相关的事件发生,则计数器C2被增量,如果与计数器C3相关的事件发生,则计数器C3被增量。
这种计数操作在每个周期中重复。在预定的时间段(以下称为间隔时间INT)结束时,将相应计数器的计数器值存储在跟踪缓冲器中。
更具体而言,如图2中,假定七个周期被定义为一个间隔时间INT,与第一、第二、第三计数器C1、C2和C3(图1所示)相关的事件被分别称为第一、第二和第三事件EV1、EV2和EV3。然后,如图2所示,例如,考虑第二事件EV2发生在第一和第二周期,第一和第二事件EV1和EV2发生在第三周期,在第四和第五周期没有事件发生,第三事件EV3发生在第六和第七时间段的情况。在这种情况下,当间隔时间INT过去时,计数器C1、C2和C3的计数器值分别是1、3和2。
在一个间隔时间INT完成时这些计数器值被存储在跟踪缓冲器中。在存储了计数器C1到C3的所有计数器值之后,计数器C1到C3的所有计数器值被重置。此后,重新开始下一个间隔时间INT的计数操作。
通过这种方式,在每个间隔时间中每个计数器C1到C3的计数器值被连续地存储在跟踪缓冲器中。
此外,性能监测设备被设置以测量每个周期中的程序计数(PC)值。在一个间隔时间INT的任何一个周期(例如,在最后一个周期)中测量的PC值被存储在与对间隔时间INT测量的每个计数器值相关的跟踪缓冲器中。
图2显示了存储在跟踪缓冲器中的数据的实例。在这个实例中,各个计数器C1到C3的计数器值CXT1(=1)、CXT2(=3)和CXT3(=2)以及在第一个间隔时间INT1的最后周期中测量的PC值(0x87)被存储作为第一间隔时间INT1的数据。类似地,各个计数器C1到C3的计数器值CXT1(=4)、CXT2(=6)和CXT3(=1)以及在第二个间隔时间INT2的最后周期中测量的PC值(0x22)被存储作为第二间隔时间INT2的数据。对于每个随后的连续间隔时间,依次存储相同类型的数据。
如上所述,在跟踪缓冲器中,每个间隔时间INT1、INT2、...、INTn的每个特定事件的发生次数以及每个间隔时间INT1、INT2、...、INTn的最后周期中测量的PC值被按照时间顺序相互关联地存储。这种数据被称为跟踪数据。
这样存储在性能监测设备中的跟踪数据被用于调节软件。
然而,计数器值CXT1到CXT3没有完全地显示在由与计数器值CXT1到CXT3相关的PC值指示的程序区中执行时的性能特征。这是因为,在这样的跟踪数据中,某个间隔时间INT的所有周期中事件发生的次数被存储为计数器值CXT1到CXT3,而该间隔时间INT的任何一个周期的PC值被存储为与这些计数器值相关的PC值。结果,使用这种跟踪数据的软件调节可能无法实现充分的性能改善的效果。
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