[发明专利]薄膜晶体管的制造方法无效

专利信息
申请号: 200710101060.2 申请日: 2007-04-26
公开(公告)号: CN101295679A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 施智仁;叶文钧;何明徹;杨文琪 申请(专利权)人: 中华映管股份有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L21/336;H01L21/20;H01L21/268;G02F1/1362
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 谢丽娜;陈肖梅
地址: 中国台湾桃*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管的制造方法,包含:

(a)提供一基板,形成一非晶硅层于该基板上;

(b)于(a)步骤后,用一激光退火照射该基板的该非晶硅层的部分区域进行侧向长晶,以形成多个多晶硅区域;

(c)于(b)步骤后,对该基板进行表面氧化层处理;以及

(d)于(c)步骤后,对该基板实施一全面性激光退火照射。

2.如权利要求1所述的薄膜晶体管的制造方法,其中该基板与该非晶硅层之间包含形成一氮化硅膜于该基板上。

3.如权利要求2所述的薄膜晶体管的制造方法,其中还包括形成一氧化硅膜于该氮化硅膜上。

4.如权利要求1所述的薄膜晶体管的制造方法,其中该部分区域为一薄膜晶体管的电路布局区域。

5.如权利要求1所述的薄膜晶体管的制造方法,其中在步骤(b)中,侧向长晶原理的激光退火为循序性侧向结晶、固态激光或细光束方向性结晶。

6.如权利要求1所述的薄膜晶体管的制造方法,其中在步骤(c)后,该全面性激光退火包含一线束准分子激光退火照射。

7.如权利要求1所述的薄膜晶体管的制造方法,其中该表面氧化层处理包含:

(a)使用稀释氢氟酸溶液和臭氧水清洗该基板;以及

(b)于(a)步骤后以高温高压水蒸气或氧气在该非晶硅层上形成一氧化层。

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