[发明专利]在真空中涂覆氮化硅薄膜的方法无效
申请号: | 200710101779.6 | 申请日: | 2007-05-15 |
公开(公告)号: | CN101074477A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 弗拉基米尔·希里罗夫;谢尔盖·马雷舍夫;亚历山大·霍赫洛夫;艾拉特·希萨莫夫;米卡莱·莱乌胡克 | 申请(专利权)人: | 弗拉基米尔·希里罗夫;谢尔盖·马雷舍夫;亚历山大·霍赫洛夫;艾拉特·希萨莫夫;米卡莱·莱乌胡克 |
主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C23C14/06;C23C14/54 |
代理公司: | 北京金信立方知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 白俄罗*** | 国省代码: | 白俄罗斯;BY |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 空中 氮化 薄膜 方法 | ||
1.在真空中向固定放置的衬底上涂覆氮化硅薄膜的方法,其中 向真空箱中馈送工作气体的混合物:氮气和氩气,从至少一个离子源 形成离子束,由定向离子束溅射硅靶,并通过扫描衬底的表面溅射材 料分层沉积到衬底上;而且,离子源与靶共同相对于衬底作相对运动, 其特征在于在离子源相对于衬底的相对运动的每个循环,形成厚度在 2-10纳米范围内的至少一层,及在工作气体的混合物中引入氦气。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于工作气体的混合物 中氦气的体积百分比保持在2-20%的范围内。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于溅射材料流是 给定的长直线形;在该情况下溅射材料流的扫描幅度和线性部分的长 度超过衬底的各个线性尺寸。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于在沉积薄膜的过程 中箱内的工作压强不超过10-1帕。
5.在真空中向固定放置的衬底上沉积氮化硅薄膜的方法,其中 向真空箱中馈送工作气体的混合物:氮气和氩气,从至少两个离子源 形成离子束,由定向离子束溅射硅靶,且溅射材料分层沉积到衬底的 表面上,其特征在于离子源与靶共同相对于衬底的表面固定安装,以 脉冲模式溅射靶,以该方式前一与后一脉冲之间的间隔为至少0.1 秒;在该情况下一个脉冲内形成厚度在2-10纳米范围内的至少一层, 及在工作气体的混合物中引入氦气。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于工作气体的混合物 中氦气的体积百分比保持在2-20%的范围内。
7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于可绕其轴旋转 地安装离子源。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于在沉积薄膜的过程 中箱内的工作压强不超过10-1帕。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于弗拉基米尔·希里罗夫;谢尔盖·马雷舍夫;亚历山大·霍赫洛夫;艾拉特·希萨莫夫;米卡莱·莱乌胡克,未经弗拉基米尔·希里罗夫;谢尔盖·马雷舍夫;亚历山大·霍赫洛夫;艾拉特·希萨莫夫;米卡莱·莱乌胡克许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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