[发明专利]三维测量方法以及装置无效
申请号: | 200710101922.1 | 申请日: | 2007-04-27 |
公开(公告)号: | CN101074870A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 城山孝二;荒木宪司;门胁勇 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 测量方法 以及 装置 | ||
1、一种三维测量装置,其特征在于,
备有:
对被对象物进行激光测量的激光测量部;
对由该激光测量部从多个方向测量所得的测量数据进行合成的合成机构;
对由所述激光测量部所测量的测量数据和由所述合成机构所合成的再现数据进行存储的存储机构,
还备有:
存储机构,其对针对存储在所述存储机构中的测量数据的测量条件数据,进行存储;
校正机构,其基于测量条件数据对存储于所述存储机构中的测量数据进行校正。
2、根据权利要求1所述的三维测量装置,其特征在于,
备有:
级差评价机构,其对存储于所述存储机构中的再现数据的级差进行评价;
校正机构,其基于该级差评价机构中的评价数据,对所述测量数据进行校正。
3、一种三维测量方法,其特征在于,
具有:
激光测量步骤,其中对被对象物进行激光测量;
合成步骤,其中对由上述激光测量步骤中从多个方向测量所得的测量数据进行位置合并、合成;
显示步骤,其中对由所述激光测量步骤测量所得到的测量数据和由所述合成步骤所合成的再现数据进行显示,
还具有:
测量条件计算步骤,其中对与所述激光测量步骤中测量所得的测量数据相关的测量条件数据,进行求算;
校正步骤,其中基于测量条件数据,对所述激光测量步骤中测量所得的测量数据,进行校正。
4、根据权利要求3所述的三维测量方法,其特征在于,
具有:
级差评价步骤,其中对所述合成步骤中所生成的再现数据的级差进行评价;
校正步骤,其中基于所述级差评价步骤中的评价结果和所述测量条件数据,对所述激光测量步骤中所测量的测量数据进行校正。
5、一种程序,在计算机系统中进行处理,所述计算机系统具有计算机主体和显示屏,所述计算机主体备有输入数据和处理程序的输入模块、对所输入的数据和程序进行蓄积的存储部、以及运算部等,其特征在于,
该程序备有:
测量条件存储模块,其对针对存储在所述存储模块中的测量数据的测量条件数据,进行存储;
校正模块,其基于测量条件数据,对存储于所述存储模块的测量数据进行校正。
6、根据权利要求5所述的程序,其特征在于,
所述程序,由设于计算机主体中的磁盘读取装置和CD-ROM读取装置所读取,而取入到该计算机主体内部。
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