[发明专利]成像装置及其控制方法无效

专利信息
申请号: 200710101999.9 申请日: 2007-12-18
公开(公告)号: CN101206432A 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: 赵明勋 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G03G15/01 分类号: G03G15/01;G03G15/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 成像 装置 及其 控制 方法
【说明书】:

技术领域

发明的一些方面涉及成像装置及其控制方法,更具体讲涉及利用测试图像来控制成像特性的成像装置及其控制方法。

背景技术

成像装置,例如激光打印机、复印机、以及多功能设备,控制感光元件的曝光以显影调色剂(toner),接着将调色剂转印(transfer)并定影(fuse)到打印介质上,由此形成图像。通常,能够形成彩色图像的成像装置包括具有激光扫描单元(LSU)的成像单元、多个感光元件、与多种颜色对应提供的多个转印辊,等等。例如,多个感光元件沿打印介质的传送路径布置。借助如传送带的传送单元沿传送路径来转印打印介质。

为了控制成像单元的成像特性,例如显影条件和色彩配准(colorregistration),成像装置形成图像(下文中称为“测试图像”)以测试成像装置的质量,以便确定成像特性。

图1显示了由传统的成像装置形成测试图像。附图标记1表示传送带。附图标记2表示与多种颜色相对应形成的测试图像(下文,测试图像也被称为“密度标记”)。

传统的成像装置根据所提供的用来控制成像特性的测试数据在传送带1的表面上在预定位置处转印调色剂。所转印的调色剂形成密度标记2。除了密度标记2是形成在传送带1上而不是形成在打印介质上之外,在以与实际打印操作过程中移动传送带1相同的方式移动传送带1的同时,成像装置形成密度标记2。在图1中,参考符号“A”表示传送带1的传送方向。

如图1所示,成像装置形成与每一种颜色C(青)、M(品红)、Y(黄)和K(黑)对应的四个密度标记2。每一个密度标记2均基本呈矩形。

成像装置包括检测密度标记2的检测器3。检测器3以预定驱动电压照射光并检测从密度标记2反射的光线。成像装置利用从检测器3获得的检测结果估计密度标记2的密度。基于所估计的密度标记2的计算密度,成像装置确定成像特性,例如,显影条件或色彩配准条件。

为了获得高度可靠的检测结果,检测器3可以多次执行对一个密度标记2的检测。此外,代替仅使用一个检测器3来检测密度标记的密度,多个检测器3可以穿过传送带2的传送方向“A”而被提供,从而顺序执行检测。在该情况下,通过使用下面的等式(1)可以确定每一种颜色的密度标记2的尺寸“W”:

W(mm)=[传送带的传送速度(mm/s)]×[检测时间(sec)]×[检测次数]×[检测器的数量]    (等式1)

在等式1中,传送带的传送速度指传送带1移动密度标记通过检测器3的速度,检测时间指由检测器3执行一次检测操作所需要的时间,检测次数指检测器3执行检测操作以分析密度标记的次数,以及检测器的数量指在检测操作过程中所使用的检测器3的数量。

此外,在改变检测器3的驱动电压等级以获得更可靠的检测结果的同时,传统的成像装置能够重复地控制成像特性。在这种情况下,如图1所示,需要在传送带1上形成多个密度标记2。

同样地,当利用测试图像控制成像特性时,形成测试图像所消耗的调色剂的量取决于成像装置的特性。也就是,当传送带1的传送速度较快时,并且当以高度可靠的方式分析检测标记时,检测器3或多个检测器3需要大量的调色剂,以具有足够的时间分析通过的密度标记,由此产生调色剂消耗的问题。

同样,由于传送到传送带1以形成测试图像的调色剂成为废弃的调色剂,则废弃调色剂的量变大。即使利用反向传送方法重新收集传送到传送带1的调色剂,也存在反向传送时间延长的问题。

发明内容

相应地,本发明的一个方面是提供一种能够最小化调色剂的消耗以利用测试图像控制成像特性的成像装置及其控制方法。

根据本发明的一个方面的一种成像装置包括:传送单元,其包括沿传送路径在传送方向上传送打印介质的传送带;成像单元,其转印调色剂到打印介质上以形成图像;密度估计单元,其提供于传送带的传送路径上并且估计由成像单元形成的图像的密度;以及控制器,其控制成像单元以形成测试图像,该测试图像的沿传送方向的长度是在测试图像的边缘通过密度估计单元的边缘时由传送带的位置偏差来确定的,基于对测试图像的密度估计,该控制器控制成像单元的特性,并且控制传送单元,以在由密度估计单元估计测试图像密度的过程中使传送带的传送速度为预定值或更小。

根据本发明的一个方面,测试图像的沿传送方向的长度由下面的等式来确定:

测试图像的沿传送方向的长度=沿传送方向的传送带的位置偏差+从测试图像反射的光的检测尺寸+裕度。

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